Differenzmessungen mit Spektrumanalysatoren und Tastköpfen

Die ständig kleiner werden Abmessungen von Bauelementen und des verfügbaren Leiterplattenplatzes bilden eine Herausforderung für die Platzierung geeigneter Prüfanschlüsse für HF-Messgeräte. Die neuesten Verbesserungen bei Verfügbarkeit und Einsatz von Hochleistungs-Differenz-Bausteinen in HF-Schaltkreisen verstärken die Probleme des Anschlusses von Messgeräten. Die Verwendung von Oszilloskop-Tastköpfen ist eine Möglichkeit, Messungen durchzuführen, indem sie mit Leiterbahnen und Chip-Anschlüssen gedruckter Schaltkreise verbunden werden, wobei nur eine minimale Fläche für den Kontakt erforderlich ist. Diese Application Note liefert Informationen über die Benutzung von Oszilloskop-Tastköpfen bei HF-Messungen unter Verwendung von Spektrumanalysatoren und zeigt die Ergebnisse von Differenzmessungen mit einem Spektrumanalysator.