Oscilloscope Days 2022

Grundlagen von Oszilloskopen und Tastköpfen – Best Practices für die Auswahl von Oszilloskopen und Tastköpfen für Ihre tägliche Arbeit (Part 1)

• Aus welchen Komponenten setzt sich ein Oszilloskop zusammen?
• Wie wirken sich Parameter wie Abtastrate, ENOB, Speichertiefe, vertikale Skalierung und Rauschen auf das angezeigte Signal aus?

Grundlagen von Oszilloskopen und Tastköpfen – Best Practices für die Auswahl von Oszilloskopen und Tastköpfen für Ihre tägliche Arbeit (Part 2)

• Wie beeinflusst der Tastkopf das Signal und warum?
• Wie findet man ein geeignetes Oszilloskop und einen passenden Tastkopf für eine bestimmte Anwendung?

Welche HF-Effekte müssen bei Messungen an und beim Design von Stromversorgungssystemen auf Basis von Wide-Bandgap-Halbleitern berücksichtigt werden? (Part 1)

• Wie kann der Messaufbau inkl. Sondierung zur Bestimmung des Schaltverhaltens optimiert werden?
• Wie lassen sich Aufwand und Fehler durch Prozessautomatisierung reduzieren?

Welche HF-Effekte müssen bei Messungen an und beim Design von Stromversorgungssystemen auf Basis von Wide-Bandgap-Halbleitern berücksichtigt werden? (Part 2)

• Wie stabilisiert man eine Gate-Versorgung für GaN und SiC?
• Wie filtert man eine GaN-basierte Stromversorgung?

Welchen Nutzen hat die Jitter-Separation? (Part 1)

Wie wird die Signalintegrität durch Filterelemente wie Gleichtaktdrosseln, durch Power Integrity und durch Asymmetrien im Leiterplattendesign beeinflusst?

Welchen Nutzen hat die Jitter-Separation? (Part 2)

• Was ist Jitter?
• Warum wird die Jitter- und Rauschzerlegung in heutigen Elektronikdesigns immer wichtiger?
• Wodurch wird Jitter verursacht?
• Welche Erkenntnisse liefert die „Signal Model Based Jitter Separation“?
• Wie wird die Signalintegrität durch Filterelemente wie Gleichtaktdrosseln, durch Power Integrity und durch Asymmetrien im Leiterplattendesign beeinflusst?

EMV Fehlersuche: Wie kann ein Oszilloskop effektiv eingesetzt werden? (Part 1)

• Wann und warum sollte man einen Funkstörmessempfänger, einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop verwenden?
• Wie kann ein EMI-Filter-Design am tatsächlichen Messobjekt validiert werden?
• Was sind Gleichtakt- und Gegentakt-Filterdesigns?
• Wie können die „Hotspots“ und Ursachen von EMI-Problemen in einem Design ermittelt werden?

EMV-Fehlersuche: Warum ist ein Oszilloskop eine gute Wahl? (Part 2)

• Wie kann ein EMI-Filter-Design am tatsächlichen Messobjekt validiert werden?
• Was sind Gleichtakt- und Gegentakt-Filterdesigns?
• Wie können die „Hotspots“ und Ursachen von EMI-Problemen in einem Design ermittelt werden?