Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die sich mit EMV-Herausforderungen beim Design von Leistungselektronik mit SiC beschäftigen. Es wird die Notwendigkeit eines Redesign-Prozesses diskutiert, bei dem EMI-Probleme so früh wie möglich berücksichtigt werden, um Kostensteigerungen und später in der Produktherstellungs- und Fertigungsphase verursachte Kosten zu vermeiden. Das Webinar erläutert die EMV-Grundlagen, Debugging-Tools und Messlösungen, die Ihnen helfen, EMI-Probleme in den frühen Phasen Ihres Entwicklungsprozesses zu erkennen und zu lösen. Auf Grundlage eines realen Szenarios zum Design von SiC-Bauteilen werden wir anhand bewährter Verfahren die Vorgehensweise beschreiben.
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