EMI-Fehlersuche
EMI-Fehlersuche

Fehlersuche bei elektromagnetischen Störungen (EMI)

Bei der Fehlerbeseitigung von Problemen, die durch elektromagnetische Störungen (EMI) verursacht werden, sehen sich Elektronikentwickler mit der Herausforderung konfrontiert, die Quellen der unerwünschten Aussendungen zu identifizieren und Lösungen dafür zu entwickeln. Die wiederholte Prüfung im Labor für EMV-Konformität zur Identifizierung und Lösung dieser Probleme ist kostenintensiv und verzögert die Produkteinführung oft signifikant. Durch häufige EMV-Tests während des gesamten Entwicklungsprozesses lässt sich das Risiko, dass größere Änderungen notwendig werden, minimieren. Dadurch werden die Produkteinführungskosten reduziert und Verzögerungen unwahrscheinlicher.

Digitale Oszilloskope sind in Verbindung mit Nahfeldsondensätzen leistungsstarke Werkzeuge zur Fehlersuche während der Entwicklungsphase. Mit ihnen können Entwickler EMV-Probleme frühzeitig und schnell lokalisieren und analysieren. Eine hohe Messdynamik und eine hohe Eingangsempfindlichkeit von 1 mV/Div stellen sicher, dass sogar schwache Aussendungen analysiert werden können. Die Implementierung der schnellen Fourier-Transformation (FFT) im R&S®RTO bietet eine hohe Aktualisierungsrate. Die Verarbeitungs- und Nachleuchtanzeige des FFT-Frame-Overlays gewährt Einsicht in die Struktur der unerwünschten Aussendungen.

Rohde & Schwarz bietet Geräte mit speziellen Testmodi wie dem Spektrumanalysator-Modus (kombiniert mit Zero-Span), dem Echtzeit-Nachleuchtmodus und der Spektrogrammansicht an. Für die EMV-Testverfahren stehen ein Empfängermodus mit schrittweisem Scan (klassischer Modus) und ein Zeitbereichs-Empfängermodus (FFT-basiert) zur Verfügung. Während der schrittweise Scan die punktweise Abdeckung des kompletten Spektrums ermöglicht, erlaubt der Zeitbereichsmodus die parallele Abtastung einer großen Zahl von Frequenzpunkten.

Weitere detaillierte Informationen finden Sie in unserer Applikationsbroschüre „Driving tomorrow's mobility“.

Aussendungen, die mit einem Oszilloskop und einer Nahfeldsonde erfasst wurden.

Zeitverhalten des Messobjekts mit Hilfe der Spektrogrammansicht.

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