Elektronikentwicklung

Elektronikentwicklung

Messtechniklösungen für Entwickler von elektronischen Schaltungen

Die Welt von heute wird einerseits durch die neuesten industriellen und wirtschaftlichen Techniken und Entwicklungen wie IoT, Industrie 4.0 und saubere Energie geprägt. Auf der anderen Seite haben fundamentale Änderungen in der persönlichen Lebensführung wie E-Health, Elektromobilität, Smart Homes, Smart Cities und soziale Medien einen großen Einfluss. All diese Entwicklungen erzeugen eine starke Nachfrage nach einer neuen Generation von Elektronikgeräten, die die großen Herausforderungen bezüglich Tragbarkeit, Mobilität, Konnektivität, Performance, Energieeffizienz, Robustheit und höchster Datenraten meistern.

Infolgedessen sehen sich Elektronikingenieure mit immer komplexeren Herausforderungen beim Design und der Entwicklung von integrierten Platinenarchitekturen konfrontiert. Unsere hochmodernen Messtechniklösungen umfassen sowohl klassische Laborgeräte als auch tragbare Instrumente und unterstützen Applikationen auf folgenden Gebieten:

  • Messtechnik für Analog-/Digitaldesign
  • Digitale Bus- und Schnittstellenstandards
  • Leistungselektronik
  • Kabelfernsehen/DOCSIS
Electronic Design and Test Day 2020 - Wrap up

Electronic Design and Test Day – online

You missed the Electronic Design and Test Day 2020 in Munich?

You are interested in technical discussions and implementation challenges as well as best practices related to DC/DC converter design, digital design & test, power and signal integrity and EMI debugging?

Register and watch now our 6 key note presentations from Rohde & Schwarz and independent technical experts.

Elektronikentwicklung-Webinare

Elektronikentwicklung-Webinare

Oszilloskope

Oszilloskope-Webinar; Center für Digitaldesign und Leistungselektronik-Anwendungen

Takt- und LO-Komponenten in 5G-Basisstationen

Leistungsparameter und Testlösungen

Designs von Taktsignal- und LO-Komponenten für 5G-Basisstationen bringen große Herausforderungen mit sich, da ein herausragendes Zeitverhalten gefordert wird. Erfahren Sie mehr über die Leistungsparameter und Testlösungen für Phasenrauschen, Zeitabgleich und Laufzeitausgleich sowie Eingangsüberwachung, Holdover und Relocking. Als Beispiel dient der Taktgenerator für HF-Abtastung/Jitter-Dämpfungsglied sowie der Mikrowellensynthesizer von IDT.

Unsere Lösungen

Digitaldesign-Test

Wählen Sie aus unseren umfassenden Messtechniklösungen für Signalintegrität und Power Integrity, digitale Bus- und Schnittstellenstandards, Stimulation und Analyse von analogen/digitalen Signalen, EMV-Fehlersuche und Design von Datenumsetzern.

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Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen

Schnelle digitale Schnittstellen sind heute aus keinem Elektronikdesign mehr wegzudenken. Die immer höheren Datenraten und zunehmende Integrationsdichte stellen auf IC-, Baugruppen- und Systemebene neue Anforderungen an die Designs.

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Leistungselektronik

Meistern Sie alle Aspekte von Leistungselektroniktests mit unseren Lösungen für eingebettete Leistungselektronik und integrierte Schaltkreise, Elektroinstallationen, Beleuchtung und elektrische Antriebe.

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Kabelfernsehen/DOCSIS

Umfassende Tests von DOCSIS-3.1-Kabelkopfstellen (CMTS), Kabelnetzverstärkern, Lasern, Netzwerkkomponenten und Kabelmodems.

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IEEE MTT-S International Conference on Microwave Acoustics & Mechanics

IEEE MTT-S International Conference on Microwave Acoustics & Mechanics

Die International Conference on Microwave Acoustics & Mechanics (IC-MAM) ist eine einzigartige und beispiellose Gelegenheit, Forscher und Praktiker aus unterschiedlichen Bereichen und mit unterschiedlichem Background (Materialwissenschaftler, Physiker, Mikrowellen- und Prozesstechniker) zusammenzubringen. Auf diese Weise können die jüngsten Fortschritte zu neuen Materialien und Fertigungsprozessen, aber auch zu Komponenten und Geräten ausgetauscht werden. Denn darin liegt der Schlüssel zur Entwicklung zukünftiger HF-, Mikrowellen-, Millimeterwellen- und THz-Geräte/Schaltungen/Systeme auf Basis von RF-MEMS und Acoustics. Die C-MAM wird von der IEEE Microwave Theory and Techniques Society (MTT-S) organisiert. Technischer Co-Sponsor ist dabei die European Microwave Association (EuMA). Die Konferenz wartet mit einem aufregenden Technikprogamm auf und bietet den Teilnehmern Vorträge angesehener Experten aus der internationalen Welt rund um RF-MEMS und BAW/SAW-Technologien.

  • 13.- 14. Juli 2020
  • Rohde & Schwarz München

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