Bei der EMV-Fehlersuche an elektronischen Schaltungen stehen Entwicklungsingenieure vor der Herausforderung, den Ursprung unerwünschter Aussendungen schnell und zielsicher zu ermitteln und diese zu beseitigen. Wenn der Anwender das Oszilloskop ebenfalls für die EMV-Fehlersuche benutzen kann, lassen sich viele Probleme bereits entwicklungsbegleitend lösen.

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