EMV-Fehlersuche an eingebetteten Leistungselektronik-Designs

EMV-Fehlersuche an eingebetteten Leistungselektronik-Designs

Schnelle und genaue Lokalisierung, Erfassung und Analyse von Problemen mit elektromagnetischen Störungen

Elektronische Produkte müssen die EMV-Normen erfüllen, bevor sie auf den Markt gebracht werden dürfen. DC/DC-Wandler in Embedded Designs sind häufig eine Quelle unerwünschter leitungsgeführter oder abgestrahlter Emissionen. Ist die Konformität nicht gegeben, folgt in der Regel eine zeitaufwendige Fehlersuche. Eine schnelle Analyse von EMV-Problemen in der Entwicklungsphase ist ein entscheidender Faktor für die termingerechte Produkteinführung. Dank der leistungsfähigen Spektrumanalysefunktionen der Rohde & Schwarz Oszilloskope können Probleme aufgrund von elektromagnetischen Störungen während der Entwicklung eines Embedded Designs beseitigt werden.

EMV-Tests mit Oszilloskopen Schritt für Schritt

Leitfaden: EMV-Fehlersuche Schritt für Schritt

Lokalisieren, erfassen und analysieren Sie Störemissionen mit Ihrem Rohde & Schwarz-Oszilloskop

Dieser Leitfaden führt Sie durch mehrere wichtige Schritte von entwicklungsbegleitenden EMV-Tests, bei denen Sie von den einzigartigen Funktionen der Oszilloskope von Rohde & Schwarz profitieren. Er erklärt, wie sich Störemissionen mit verschiedenen Korrelationen und Taktiken lokalisieren, erfassen und analysieren lassen.

Lösungen

Optimierung von Halbleiterschaltern mit großer Bandlücke zur Erreichung der EMV-Konformität

Die EMV-Konformität erlangt aufgrund steigender Schaltgeschwindigkeiten bei moderner Leistungselektronik immer größere Bedeutung. Korrelierte Zeit-Frequenz-Messungen unterstützen die Gate-Treiber-Optimierung und minimieren elektromagnetische Emissionen bereits während der Entwicklung.

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Verkürzen Sie die Entwicklung von Leistungselektronik mit einem Oszilloskop für die EMV-Fehlersuche

Oszilloskope sind die Arbeitspferde für Leistungselektronik-Ingenieure. Mit leistungsstarken und einfach zu bedienenden FFT-Analysefunktionen erstrecken sich ihre Anwendungsbereiche bis hin zur EMV-Fehlersuche – und das spart eine Menge Zeit und Geld. Eine typische Aufgabe ist die Überprüfung der Wirksamkeit von Störschutzfiltern früh in der Entwicklungsphase.

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Analysieren des Gleichtaktrauschens externer Netzteile für fehlerfreien Touchscreen-Betrieb

Moderne, kapazitive Touchscreens, wie sie z. B. in Mobiltelefonen zum Einsatz kommen, reagieren empfindlich auf das Gleichtaktrauschen externer Netzteile.

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EMV-Probleme mit Oszilloskopen analysieren

Oszilloskope von Rohde & Schwarz sind leistungsstarke Werkzeuge, die die Lösung von EMV-Problemen direkt am Arbeitsplatz des Entwicklers ermöglichen. Diese Kurzdarstellung der Anwendung zeigt, wie die R&S®RTE und R&S®RTO Oszilloskope effektiv für Aufgaben zur EMV-Fehlersuche eingesetzt werden können.

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EMV-Fehlersuche – ausführliche Application Note

Diese Application Note erklärt auf einfache Art und Weise wie sich EMV-Probleme mit dem R&S®RTO und dem R&S®RTE analysieren lassen. Die Erklärung behandelt die grundlegenden Mechanismen, die zu unerwünschten HF-Aussendungen führen können, und die Vorgehensweise bei der Analyse von EMV-Problemen. Ein Praxisbeispiel illustriert den Analyseprozess.

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EMV-Fehlersuche auf Baugruppenebene mit Spektrumanalysatoren

Spektrumanalysatoren sind eine ideale Wahl für die Messung von Störemissionen. Der Handheld-Spektrumanalysator R&S®Spectrum Rider FPH ist eine kosteneffiziente Lösung zur Lokalisierung und Analyse von Problemen mit elektromagnetischen Störungen.

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Um Elektronikprodukte auf den Markt bringen zu können, ist es unerlässlich, die Anforderungen bezüglich elektromagnetischer Störungen und elektromagnetischer Verträglichkeit zu erfüllen. Konformitätsprüfungen beanspruchen teure Ausrüstung und Prüfzeit in einem Abnahmelabor. Fehler, die erst in einer späten Phase des Zyklus gefunden werden, wirken sich aufgrund der Fehlersuche und erneuter Tests auf die Projektkosten und den Zeitplan für die Markteinführung aus. Dieses Video zeigt, wie man das R&S®RTO Oszilloskop zusammen mit einer Nahfeldsonde einsetzt, um Probleme mit elektromagnetischen Störungen während der Entwicklung im Labor schnell und zuverlässig aufzuspüren und zu beheben. Dies minimiert den Aufwand für kostspieliges, erneutes Testen und verkürzt die Produkteinführungszeit.

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Leistungsstarke E- und H-Nahfeldsonden für den Frequenzbereich von 9 kHz bis 3 GHz mit optionalem Vorverstärker für die EMI-Fehlersuche mit Messempfängern, Spektrumanalysatoren und digitalen Oszilloskopen.

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EMV-Precompliance/EMV-Konformität

Bestimmen Sie die Ursachen und Auswirkungen von elektromagnetischen Störungen mit Prüfmitteln und -systemen zur Messung von elektromagnetischen Störaussendungen (EMI) und der Störfestigkeit (EMS) in Forschung und Entwicklung, im Rahmen von Precompliance-Tests und Konformitätsprüfungen.

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