1MA177: LTE-Endgerätetests unter Fading-Bedingungen mit dem R&S®CMW500 und dem R&S®AMU200A

Diese Application Note zeigt, wie LTE-Endgeräte-Blockfehlerraten- (BLER) und Durchsatztests unter Fading-Bedingungen mit dem R&S®CMW500 Protokolltester und dem R&S®AMU200A Fading Simulator durchgeführt werden.

Name Typ Sprache Version Datum Größe
1MA177_4e_LTE_terminal_tests_under_fading_cond.pdf Application Note Englisch 4e 06.06.2011 1 MB
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