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Sprache: EN
Referent: Hermann Ruckerbauer, CEO EyeKnowHow
Johannes Ganzert, Applikationsingenieur, Rohde & Schwarz


Webinare zum Elektronikdesign – Oszilloskop-Serie
Verifizierung des Designs von DDR-Speichersystemen und Fehlersuche
In diesem Webinar befassen wir uns mit optimalen Verfahrensweisen zur Verifizierung des Designs von DDR-Speichersystemen und zur Fehlersuche mit einem Oszilloskop.
Entwicklungs- und Prüfingenieure erfahren, wie wichtig es ist, einen stabilen Betrieb sicherzustellen und das Ausfallrisiko nach Änderungen während der Lebensdauer des Produkts zu verringern. Für beides ist eine gründliche Charakterisierung der Speicherschnittstelle erforderlich.
Wir besprechen die messtechnischen Voraussetzungen im Hinblick auf Bandbreite, Triggerung und Sondierung, die die Identifizierung von Jitter-, Timing- und Geräuschproblemen unterstützen. Anhand des R&S®RTP Hochleistungsoszilloskops zeigen wir praktische Messbeispiele.