Effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem DDR-Design
Designverifizierung und Fehlersuche – Konformitätstests
Die Nachfrage nach höheren Geschwindigkeiten, größeren Speichern und mehr Energieeffizienz ist die wesentliche Motivation für die Weiterentwicklung der von der JEDEC definierten DDR- und LPDDR-Schnittstellentechnologien. In enger Zusammenarbeit mit der JEDEC entwickelt Rohde & Schwarz leistungsstarke Lösungen für DDR-Konformitätstests.
Als Systembestandteile müssen der DDR-Speicher-Controller und die Speicherbausteine auch im Umfeld anderer schneller Schnittstellen und selbst unter dem Einfluss externer Funksignale fehlerfrei arbeiten. Neben Konformitätsprüfungen unterstützen die DDR-Testlösungen von Rohde & Schwarz auch die effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem Design sowohl auf der Baugruppen- als auch Systemebene.
- Oszilloskope für Schnittstellenverifizierung, Debugging, Konformitätstests und TDR-Analyse
- Netzwerkanalysatoren für Leiterplatten- und Verbindungstests
