Magazin NEUES von Rohde & Schwarz

BILD 1: On-Wafer-Messung bei 300 GHz mit dem Millimeterwellen-Prober von MPI und dem Netzwerkanalysator R&S®ZVA mit Frequenzkonvertern.
217 | Allgemeine Messtechnik

Komplettlösung für die On-Wafer-Charakterisierung von Millimeterwellen-Komponenten

Die zunehmende Integration von Bauelementen führt immer häufiger dazu, dass diese nicht mehr über koaxiale Anschlüsse getestet werden können, da es keine mehr gibt. Stattdessen charakterisiert man sie direkt auf dem Wafer, was eine Kombination aus Netzwerkanalysator und Probe Station erfordert. Eine solche Komplettlösung ist jetzt von Rohde & Schwarz erhältlich.

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