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PCI express Oscilloscopes Serial bus debugging

PCI Express Gen 3 - ensayos de conformidad y depuración

PCI Express Gen 3 - compliance and debug testing

Este webinar está dirigido a ingenieros encargados del diseño digital de alta velocidad y los ensayos correspondientes. En particular, se tratan las interfaces PCIe Gen 3. Tras una presentación general de la tecnología PCIe, se abordarán los ensayos de PCIe con fines de conformidad, disparo y decodificación de protocolo, así como depuración de integridad de señal.

Empezaremos por la verificación de la interoperabilidad del sistema. Se abordarán en detalle la decodificación, el disparo en serie, pruebas de diagrama de ojo, deembedding, control de impedancia y análisis de jitter, recursos todos ellos que pueden ayudar a identificar causas raíz cuando no se superan los ensayos de conformidad. Mediante ejemplos prácticos y demostraciones se ilustrará la forma de realizar ensayos de PCIe de forma sencilla y fiable.

Jithu Abraham works for Rohde & Schwarz as a product manager for the UK, Ireland and the Benelux region, specializing in oscilloscopes. He enjoys all aspects of high-speed digital, wireless communication, efficient power conversion and all the challenges they bring. Jithu holds an engineering degree in electronics and communication from the Anna University in India and a master’s degree in RF systems from the University of Southampton. He has been working for Rohde & Schwarz for over 12 years.

Jithu Abraham