Depuración de EMI
Depuración de EMI

Depuración de interferencias electromagnéticas (EMI)

Al depurar errores de interferencia electromagnética (EMI), los desarrolladores de sistemas electrónicos se enfrentan a la difícil tarea de identificar las fuentes de emisiones no deseadas y de desarrollar soluciones para ellas. La repetición de las pruebas en el laboratorio de conformidad de EMC para identificar y resolver estos problemas resulta costosa y, con frecuencia, retrasa el lanzamiento del producto. Las medidas frecuentes de EMI en cada etapa del proceso de desarrollo reducen las probabilidades de rediseños mayores y también los costes y los retrasos relacionados con el lanzamiento de los productos.

Los osciloscopios digitales combinados con juegos de sondas de campo cercano son instrumentos muy potentes para depurar durante el diseño. Permiten a los diseñadores localizar y analizar con rapidez los problemas de EMI en las primeras fases. Su gran rango dinámico y elevada sensibilidad de entrada de 1 mV/div hacen posible incluso el análisis de emisiones débiles. La transformada rápida de Fourier (FFT) en R&S®RTO ofrece una frecuencia de actualización rápida; el procesamiento de tramas FFT superpuestas y la visualización de persistencia permiten analizar en detalle la estructura de las emisiones no deseadas.

Rohde & Schwarz ofrece una amplia gama de instrumentos con modos de prueba específicos, como el modo de analizador de espectro (combinado con span cero), el modo de persistencia en tiempo real y la vista de espectrograma. Para los procedimientos de pruebas EMI, hay disponibles un modo de receptor de detección escalonada (modo clásico) y otro de receptor de dominio temporal (basado en FFT). Mientras que el modo de detección escalonada ofrece una cobertura punto por punto de todo el espectro, el modo de dominio temporal permite el manejo en paralelo de numerosos puntos de frecuencia.

Encontrará más detalles en nuestro folleto de aplicación "Impulsamos la movilidad del mañana".

Emisiones capturadas por un osciloscopio con una sonda de campo próximo.

Comportamiento de sincronización del dispositivo bajo prueba mediante vista de espectrograma.

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