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205 | CEM et mesure de champ

Obtention rapide et sûre de la certification avec le diagnostic CEM tout au long du développement

Reprises fastidieuses, tests d’acceptation réitérés, date de lancement manquée sont autant de ­scénarios cauchemardesques qui peuvent être évités en réalisant des mesures de diagnostic CEM simples tout au long du développement avec des analyseurs de spectre. Le développement de produits électroniques complexes exige en effet beaucoup trop d’efforts et de coûts pour attendre jusqu’à l’acceptation finale l’évaluation de leurs caractéristiques CEM. Avec l’option R&S®FSV-K54, les familles d’analyseurs R&S®FSVR et R&S®FSV disposent désormais à cet effet d’un outil puissant.

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