Débogage EMI
Débogage EMI

Débogage d'interférence électromagnétique (EMI)

Lors du débogage des problèmes d'interférence électromagnétique, les ingénieurs en conception électronique sont confrontés à un sérieux problème : identifier les sources d'émissions indésirables et élaborer une solution pour y remédier. Les tests répétitifs effectués dans le laboratoire de conformité CEM pour identifier et résoudre ces problèmes sont coûteux et retardent souvent de manière significative le lancement du produit. Des tests EMI réguliers tout au long du processus de développement réduisent la probabilité d'une refonte majeure, tout en diminuant efficacement les coûts et les délais de lancement du produit.

Des oscilloscopes numériques associés à des jeux de sondes de champ proche forment de puissants systèmes adaptés au débogage pendant la phase de conception. Ils permettent aux concepteurs de rapidement localiser et analyser les problèmes EMI en amont. Grâce à une grande plage dynamique et une sensibilité élevée de 1 mV/div, même les émissions faibles peuvent être analysées. La transformation de Fourier rapide (FFT) utilisée par le R&S®RTO fournit un taux de rafraîchissement élevé, et l'affichage de la persistance ainsi que le traitement de superposition de trame FFT permettent de mieux comprendre la structure des émissions indésirables.

Rohde & Schwarz propose une gamme d'instruments équipés de modes de test dédiés, tels que le mode d'analyse de spectre (combiné avec le zéro span), le mode de persistance de la mesure en temps réel et la vue spectrogramme. Pour les procédures de test d'EMI, un mode récepteur à balayage progressif (mode classique) et un mode récepteur dans le domaine temporel (basé sur la FFT) sont disponibles. Alors que le mode de balayage progressif offre une couverture point par point du spectre entier, le mode de domaine temporel permet de traiter de nombreux points de fréquence parallèlement.

Trouvez des explications plus détaillées dans notre brochure d'application "Conduire la mobilité du futur".

Émissions captées par un oscilloscope à l'aide d'une sonde de champ proche.

Temporisation de l'équipement testé représenté dans le spectrogramme.

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