Negli ultimi anni si è assistito a un sostanziale aumento dell'utilizzo di dispositivi attivi che lavorano a frequenze millimetriche e sub-terahertz. Tali dispositivi trovano applicazione in vari settori, tra cui quello automobilistico, radar, radioastronomia, telerilevamento, militare e altri.

La misura dei parametri S è sempre stata un metodo accettato per caratterizzare questi dispositivi. Vedremo come gli analizzatori di reti vettoriali vengono utilizzati per caratterizzare questi dispositivi in prova per applicazioni lineari di conversione di frequenza e non.

Quando i dispositivi iniziano a essere pilotati nelle regioni non lineari, i parametri S standard non sono sufficienti per una caratterizzazione completa del dispositivo e devono essere utilizzate nuove tecniche.

Esamineremo le tecniche che misurano i parametri S a livelli di potenza specificati dall'utente, discuteremo la realizzazione di misure accurate e ripetibili di compressione del guadagno, così come le misure col metodo del load pull attivo non a 50 ohm su un dispositivo in prova in condizioni di ampio segnale che rendono possibile la validazione di modelli di dispositivi non lineari, e come creare reti di adattamento ideali per massimizzare le prestazioni del dispositivo in prova.