DDR3/DDR4システムデザインでの効率的なアイダイアグラム・テスト
コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダムアクセス・メモリ(DRAM)信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルなどのパラメータがJEDEC仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。システムの検証とデバッグでは、アイダイアグラム測定は、デジタル設計のシグナルインテグリティーを効率的に解析するための最も重要なツールです。DDRには固有の性質があるため、DDRデータバスで意味のあるアイダイアグラムを取得するには、強力なリード/ライト分離を備えた専用ソリューションが必要です。