Application Notes

ISO/IEC 14443チップカード・データ伝送時の電磁妨害の測定

近接型ICカード(PICC)により放出される電磁妨害(EMD)は、不要な負荷変調です。このアプリケーション・ノートでは、ベクトル信号解析を使用してデータ伝送時のEMDを測定する方法について説明します。

Name
Type
Version
Date
Size
Measuring Electro Magnetic Disturbance During ISO/IEC 14443 Chipcard Data Transmission | 1MA120
Type
アプリケーション・ノート
Version
1e
Date
Oct 19, 2007
Size
3 MB
datafiles.zip
Type
Application Note File
Version
Date
Oct 19, 2007
Size
10 kB