R&S オシロスコープによる高度なジッタ解析
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ジッタ分離はデジタル規格に不可欠であり、デバッグでジッタの根本原因を特定する際に非常に重要です。このウェビナーでは、ジッタ分離とビット・エラー・レート(BER)予測で一貫した結果を達成するための新しいアプローチを紹介します。コンポーネントの詳細なブレークダウンを参照しながら、すべての信号情報を考慮に入れ、詳細な解析を提供し、緊密な結果の相関に結びつく新しい信号モデルベースの手法について説明します。
Dr. Mathias Hellwig develops, verifies and supports test and measurement solutions for time-domain applications at Rohde & Schwarz. His focus is on testing digital designs. He achieved deep technical expertise in theory and practice when finishing his PhD in ADC design at the Ruhr-University Bochum and while working on system architectures in various roles before joining Rohde & Schwarz in 2012.
Guido Schulze has more than 20 years of experience in high-speed digital testing. For the last ten years, he has worked as a product manager for the oscilloscope product division at Rohde & Schwarz. He specializes in high-end models and their respective applications.