세그먼트 메모리 및 히스토리 기능으로 산발적인 오류도 빠르게 분석 가능

목표

산발적으로 발생하는 오류는 신제품 개발의 소중한 시간을 낭비하게 만듭니다. 프로토콜 기반 버스의 디버깅 작업은 개별 데이터 패킷 간 통신이 장시간 일시정지될 수 있기 때문에 특히 어렵고 많은 시간이 소요될 수 있습니다. 예를 들어 센서는 I2C 버스를 통해 분당 한 번만 값을 전송합니다. 오실로스코프 메모리는 일반적으로 오류 및 히스토리 분석을 위한 레코드 길이를 몇 밀리초로 제한합니다.

로데슈바르즈 솔루션

대용량의 세그먼트 메모리와 전용 트리거 조건을 결합하여 길게 정지하지 않고 관련 시퀀스를 수집하는 방식으로 이 문제를 해결합니다. R&S®RTB2000 및 R&S®RTM3000 오실로스코프는 R&S®RTB-K15 및 R&S®RTM-K15 옵션으로 이러한 기능을 지원할 수 있습니다.

R&S®RTA4000 및 R&S®Scope Rider RTH 오실로스코프에는 기본적으로 세그먼트 메모리가 포함되어 있습니다.

단일 수집

긴 데이터 시퀀스는 일반적으로 끊김 없이 한 번에 수집합니다. 최대 레코드 길이는 사용 가능한 메모리 및 선택한 샘플링 레이트에 따라 달라집니다. 최대 레코드 길이가 최대 몇 밀리초에 불과해 단일 프로토콜 패킷으로 수집이 제한되는 경우가 많습니다.

능동 신호 요소만 수집

세그먼트 메모리를 이용한 신호 수집 중에는 사용 가능한 메모리가 세그먼트로 나누어지며, 각 세그먼트에 정의된 수의 샘플이 저장됩니다. 사용자는 신호의 최대 패킷 길이를 기준으로 세그먼트 길이를 정의합니다. 트리거 포인트에서는 관찰하려는 신호 세그먼트가 트리거 타임스탬프와 함께 메모리에 저장됩니다. 활동이 없는 기간에는 수집이 이루어 지지 않습니다.

최소 블라인드 시간이 필요할 경우 빠른 세그먼트 모드를 활성화할 수 있습니다. 이 모드가 활성화된 경우 신호의 즉각적 후처리 및 표시가 억제되어 두 수집 간 블라인드 시간이 최소화됩니다. 수집된 데이터는 나중에 분석됩니다.

히스토리 및 세그먼트 메모리

R&S®RTB-K15 및 R&S®RTM-K15 옵션을 장착한 R&S®RTB2000 및 R&S®RTM3000은 채널당 320/400 Msample 세그먼트 메모리의 히스토리 기능을 제공합니다. R&S®RTA4000 및 R&S®Scope Rider RTH 오실로스코프는 기본적으로 채널당 각각 1000 Msample, 500 ksample의 세그먼트 메모리를 제공합니다. 동급 최고 수준의 이 메모리는 아날로그 및 디지털 채널에 사용할 수 있습니다. 메모리는 여러 단계로 나눌 수 있습니다(표 참조). 빠른 세그먼트 모드를 활성화할 경우 블라인드 시간이 200 ns로 감소합니다.

히스토리 모드에서는 모든 수집 정보를 나중에 분석할 수 있습니다. 매우 정밀한 타임스탬프로 신호 이벤트의 시간 상관 관계를 정밀 분석할 수 있습니다. 수집 테이블에서 개별 표시된 세그먼트를 선택하여 표시할 수 있습니다. 또는 히스토리 기능을 사용하여 모든 세그먼트를 자동으로 재생할 수 있습니다. QuickMeas 기능, 마스크 테스트, 프로토콜 디코딩을 포함한 모든 측정 툴을 사용하여 오류가 있는 세그먼트를 분석할 수 있습니다.

손쉬운 구성 및 빠른 결과

그림의 I²C 신호는 길이가 약 100 μs인 프로토콜 패킷입니다. 이 프로토콜 패킷은 1분 간격으로 통신이 이뤄집니다. R&S®RTx-K1 Protocol Decoding 옵션을 활성화하면 일반 신호 오류를 안정적으로 디코딩 및 감지하는 데 세그먼트 길이 10 ksample (83.3 Msample/s 샘플링 레이트)로 충분하다는 내용이 빠르게 표시됩니다. 사용자가 이 값을 설정하면 옵션이 사용 가능한 세그먼트 수를 자동으로 계산합니다. 이 예제에서는 최대 24일의 레코드 길이에 해당하는 약 35 000 세그먼트가 있습니다.

수집 중 또는 이후에 히스토리 기능 버튼을 눌러 이전에 수집된 데이터에 액세스할 수 있습니다. 사용자는 히스토리 기능에서 제공하는 표준 마스크 테스트와 탐색 옵션으로 신호 오류와 해당 원인을 빠르게 식별할 수 있습니다. 이 예제에서는 오류가 있는 패킷에서 몇 패킷 앞에 있는 시스템 클록 신호의 글리치가 오류의 원인을 식별할 수 있는 핵심이었습니다. 타임스탬프는 오류가 주기적으로 발생했음을 보여줍니다(항상 아침에만). 체계적 테스트를 통해 전선의 부적절한 차폐로 인해 연구소의 형광등을 켤 때 발생한 펄스가 흡수되는 것으로 나타났습니다. 이 문제는 차폐를 개선하여 해결되었습니다.