질문
펄스 변조 신호에 대한 측정을 수행하고 있습니다. 더 자세한 데이터를 얻기 위해 "고분해능" 획득 모드를 사용하고 있습니다. 그런데 "샘플" 모드에서 "고분해능" 모드로 전환하면 진폭이 강하되어 세부 정보를 잃게 됩니다. 여기에서 어떤 부분이 문제인가요?
RTB, RTM, RTA: "고분해능" 획득 모드를 사용하면 세부 정보가 손실됩니까?
답변
펌웨어에는 오류가 없습니다.
"고분해능" 모드를 사용하면, 노이즈를 줄일 수 있지만 자세한 정보를 얻을 수 없습니다. 반면 여러 샘플 포인트에서 평균이 계산되므로, 사실상 분해능이 감소됩니다. 첨부된 그림에 이 기능이 설명되어 있습니다. 평균 계산으로 노이즈가 감소합니다. 고주파수 신호의 경우 샘플 레이트가 너무 낮으므로(과소 샘플링) 상기 언급된 현상이 발생합니다. 고주파수는 노이즈처럼 처리됩니다.
신호를 올바르게 검출하려면 더 빠른 시간축을 선택해야 합니다.
첨부된 스크린샷에 예시가 나와 있습니다. 신호는 펄스가 변조된 13 MHz CW입니다.
SCR10.PNG: "샘플" 획득 모드 --> 모든 항목이 정확함
SCR9.PNG: 시간축이 이전과 동일한 "고분해능" 모드 --> 샘플 레이트가 너무 낮아서 13 MHz 신호를 정확하게 감지할 수 없음
SCR11.PNG: 시간축이 더 빠른 "고분해능" 모드. 진폭이 거의 정확합니다.
결론:
"고분해능" 획득 모드의 경우 더 빠른 시간축이 필요합니다!
