EMI 디버깅
EMI 디버깅

EMI(전자기 간섭) 디버깅

EMI(Electromagnetic Inteference, 전자기 간섭) 문제를 디버깅하는 전자 설계 엔지니어는 불필요한 Emission 소스를 찾아서 이에 대한 솔루션을 개발해야 하는 문제에 직면합니다. 문제를 확인하고 해결하기 위해 EMC Compliance 실험실에서 테스트를 반복하는 경우 비용이 많이 들며, 제품 출시가 상당히 지연될 수 있습니다. 전체 개발 프로세스 내에서 EMI 테스트를 계속적으로 수행한다면 주요 부분을 재설계해야 할 가능성이 감소해 제품 출시 비용과 지연을 효과적으로 줄일 수 있습니다.

디지털 오실로스코프와 니어필드 프로브 세트를 결합한 구성은 효과적인 디버깅 기기입니다. 설계자는 이 기기를 통해 EMI 문제를 조기에 찾아 분석할 수 있습니다. 높은 다이내믹 레인지와 1 mV/div의 높은 입력 감도 덕분에 매우 약한 방출도 분석할 수 있습니다. R&S®RTO/RTE는 FFT(Fast Fourier Transformation)를 구현하여 빠른 업데이트 속도를 제공하며, FFT 프레임 오버레이 처리 및 Persistence 디스플레이를 통해 원하지 않는 emission의 구조를 분석할 수 있습니다.

x̂로데슈바르즈는 스펙트럼 분석 모드(제로 스팬과 결합), 실시간 측정 지속성 모드, 스펙트로그램 뷰와 같은 전용 테스트 모드를 갖춘 다양한 기기를 제공합니다. EMI 테스트는 Stepped scan receiver 모드(기존 모드)와 Time domain receiver 모드(FFT 기반)를 사용할 수 있습니다. Stepped scan 모드가 완전한 스펙트럼의 Point-by-Point 커버리지를 제공하는 반면 시간 도메인 모드에서는 수많은 주파수 포인트의 동시 처리가 가능합니다.

"미래의 이동성을 주도하다" 어플리케이션 브로셔에서 자세한 내용을 참조하십시오.

니어필드 프로브를 사용하여 오실로스코프로 캡처한 방출

스펙트로그램 뷰를 통한 DUT 타이밍 동작

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