Application Notes

Mediciones en instrumentos con cifras muy altas de ruido

Las mediciones de componentes con cifras muy altas de ruido se realizan por varios motivos. Por ejemplo, en una amplia gama de aplicaciones, los dispositivos se caracterizan dentro de una compleja configuración de prueba, la cual incluye altas pérdidas antes o después del dispositivo de bajo ruido. En caso de altas frecuencias, la matriz de conmutación con un complejo enrutamiento de señal y cables podría tener una pérdida muy alta. En otros casos, el dispositivo podría estar embebido en una configuración de prueba en donde el acceso directo es físicamente imposible, un ejemplo de ello es el sondeo a nivel de oblea. Utilizando equipos de medición convencionales, la medición de la cifra de ruido del dispositivo es muy inestable, si no imposible.

Name
Type
Version
Date
Size
1EF110_e_FSW-K30 High Noise Figure

This application note describes a technique to perform the noise figure measurement on lossy devices like attenuators, or on devices embedded into in test setups with high loss in front of the low noise amplifiers. The R&S®FSW-K30 noise figure measurement application performs this important measurement with a signal and spectrum analyzer using the Y-factor method. Key for this technique is a modified noise source with high level noise output signal that stimulates the device under test, and a sensitive spectrum analyzer that captures the signal from the device.

Type
Nota de aplicación
Version
1e
Date
Jun 24, 2020
Size
570 kB