En años recientes, ha habido un incremento sustancial en la utilización de dispositivos activos que operan en los rangos de ondas milimétricas y debajo de los terahercios. Estos dispositivos encuentran aplicaciones en diversas industrias, entre las que figuran la automovilística, los radares, la radioastronomía, la teledetección, la militar, entre otras.

Realizar mediciones de los parámetros-S siempre han sido una manera aceptada de caracterizar estos dispositivos. Veremos cómo se utilizan los analizadores de redes vectoriales para caracterizar estos dispositivos para aplicaciones de conversión de frecuencia lineal y de no conversión de frecuencia.

A medida que los dispositivos empiezan a llevarse a regiones no lineales, los parámetros-S estándar no son suficientes para una caracterización completa del dispositivo y necesitan utilizarse nuevas técnicas.

Examinaremos las técnicas que se utilizan para medir los parámetros-S en niveles de potencia definidos por el usuario, discutiremos la realización de mediciones precisas y repetibles de compresión de ganancia. También, trataremos las mediciones del proceso de variación sistemática de impedancia activa que no sean de 50 ohmios en dispositivos bajo prueba utilizando un modelo de gran señal, el cual hace posible la validación de modelos no lineales, y cómo crear redes que se adapten entre sí para maximizar el rendimiento del dispositivo.