Diseños electrónicos

Diseños electrónicos

Soluciones de prueba y medición para hacer frente a las necesidades de los desarrolladores de circuitos electrónicos

El mundo actual se mueve impulsado por las más avanzadas tecnologías y tendencias industriales y económicas, como el Internet de las cosas (IoT), la industria 4.0 y la energía renovable, por un lado, y por cambios fundamentales en el estilo de vida personal, como la cibersalud, la cibermovilidad, los hogares inteligentes, las ciudades inteligentes y las redes sociales, por otro lado. Todas estas tendencias dan lugar a una fuerte demanda de dispositivos electrónicos de nueva generación que estén a la altura de las exigencias en cuanto a la facilidad para llevarlos puestos, movilidad, conectividad, rendimiento, eficiencia energética, robustez y máximas velocidades de datos.

Como consecuencia directa de estas demandas, los ingenieros electrónicos se enfrentan actualmente a desafíos cada vez más complejos a la hora de diseñar y desarrollar tarjetas integradas. Nuestras soluciones de prueba y medición, sofisticadas y de amplio alcance, incluyen equipamiento clásico de laboratorio y herramientas de mano y cubren numerosas aplicaciones en los campos siguientes:

  • Diseño y prueba de tipo analógico/digital
  • Estándares de buses e interfaces digitales
  • Electrónica de potencia
  • Televisión por cable/DOCSIS
Electronic Design and Test Day 2020 - Wrap up

Electronic Design and Test Day – online

You missed the Electronic Design and Test Day 2020 in Munich?

You are interested in technical discussions and implementation challenges as well as best practices related to DC/DC converter design, digital design & test, power and signal integrity and EMI debugging?

Register and watch now our 6 key note presentations from Rohde & Schwarz and independent technical experts.

Webinars sobre diseños electrónicos

Webinars sobre diseños electrónicos

Gama de osciloscopios

Página de webinars sobre osciloscopios para aplicaciones de diseño digital y electrónica de potencia

Componentes de reloj y de OL en estaciones base 5G

Parámetros de rendimiento y soluciones de prueba

La necesidad de una temporización perfecta representa un desafío en el diseño de componentes de reloj y oscilador local para estaciones base 5G. Tomando como referencia un generador de reloj de muestreo de RF/atenuador de jitter y sintetizador de microondas de IDT se explican los parámetros de rendimiento y soluciones de prueba de ruido de fase, alineación de tiempo y ajuste de retardo, así como el monitoreo de entrada de reloj, régimen libre y reenganche.

Nuestras soluciones

Pruebas de diseños digitales

Elija entre nuestras completas soluciones de equipos de prueba y medición para la integridad de la señal y la potencia, estándares de interfaces y buses digitales, estimulación y análisis de señales analógicas/digitales, depuración de EMC y diseño de convertidores de datos.

Más información

Pruebas de interfaces digitales de alta velocidad

Las interfaces digitales de alta velocidad son el alma de todos los diseños electrónicos. El aumento de la velocidad de transferencia de los datos y la creciente densidad de integración plantean nuevos retos para el CI, el circuito y el sistema de los diseños.

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Electrónica de potencia

Gestione todos los aspectos de las mediciones de electrónica de potencia con nuestras soluciones para electrónica de potencia integrada y circuitos integrados, instalaciones electrónicas, iluminación y accionamientos eléctricos.

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Televisión por cable/DOCSIS

Pruebas completas de sistemas de terminación de módem de cable (CMTS), amplificadores de red de cable, láseres, componentes de red y módems de cable.

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Conferencia internacional de IEEE MTT-S sobre acústica y mecánica de microondas

Conferencia internacional de IEEE MTT-S sobre acústica y mecánica de microondas

La Conferencia internacional sobre acústica y mecánica de microondas (IC-MAM) es una oportunidad única y excepcional para reunir a científicos y expertos de diversas especialidades (investigadores de materiales, físicos, ingenieros de microondas y tecnólogos de procesos), con el fin de compartir los avances más recientes en nuevos materiales y procesos de fabricación, así como componentes y equipos. Estos representan la clave para el desarrollo de futuros dispositivos de RF, microondas, ondas milimétricas y THz, circuitos y sistemas basados en RF-MEMS y acústica. La IC-MAM la organiza la IEEE Microwave Theory and Techniques Society (MTT-S) con el copatrocinio tecnológico de la European Microwave Association (EuMA). La conferencia incluye un programa tecnológico de alto interés y ponencias con reconocidos invitados de la comunidad mundial de expertos en tecnología RF-MEMS y BAW/SAW.

  • Del 13 al 14 de julio de 2020
  • Rohde & Schwarz, Múnich

Más información sobre propuestas de ponencias e inscripción aquí.

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