Российское представительство компании Rohde & Schwarz приняло участие в VII Всероссийской научно-технической конференции «Электроника и микроэлектроника СВЧ»

Мероприятие проводилось на базе университетского комплекса СПбГЭТУ «ЛЭТИ»

В рамках конференции, кроме возможности познакомиться с докладами, участникам было представлено контрольно-измерительное оборудование и автоматизированные стенды и ПО компании Rohde & Schwarz для детального ознакомления и проведения измерений своих устройств.

Скачать материалы докладчиков можно на официальном сайте конференции: http://mwelectronics.ru/

Благодарим всех участников конференции за внимание к Rohde & Schwarz.

Фотоматериалы

International Website