EMI-Fehlersuche und -Analyse

Die EMI-Fehlersuche in der Designphase hilft Ihnen, den Terminplan für Ihre Produktentwicklung einzuhalten

Das Erkennen, Analysieren und Beseitigen von Ursachen elektromagnetischer Störungen (EMI) zu einem frühen Zeitpunkt im Entwicklungsprozess ist der sicherste Weg, um einen EMI-Konformitätstest erfolgreich zu bestehen. Zudem lassen sich so Redesigns, Verzögerungen und zusätzliche Kosten in der Spätphase des Projekts am besten vermeiden. Die EMI-Fehlersuche nach unerwünschten Aussendungen kann beginnen, sobald Spannung an einer Schaltung anliegt.

Rohde & Schwarz bietet multifunktionale Messinstrumente wie z. B. Oszilloskope mit modernsten FFT-Funktionen, fortschrittlichen Trigger-Möglichkeiten und sehr geringem Eingangsrauschen sowie hochempfindliche und hochgenaue Spektrumanalysatoren mit EMI-Optionen für die zuverlässige Messung sowohl leitungsgebundener als auch gestrahlter elektromagnetischer Aussendungen. Empfindliche EMV-Nahfeldsonden als Eingangsquellen ergänzen das Produktportfolio.

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Mit EMI-Tests früh im Entwicklungsprozess lassen sich Redesigns, Verzögerungen und zusätzliche Kosten in einem Projekt vermeiden.

Poster: Design with EMI in mind: Test early, test often

Es ist kostengünstiger, Probleme in Verbindung mit elektromagnetischen Störungen frühzeitig im Entwicklungszyklus zu lösen als zu einem späteren Zeitpunkt. Dies ist ein iterativer Prozess, bei dem bewährte Verfahren und Prüfungen eingesetzt werden. Dies ist natürlich ein Kompromiss, d. h. eine Abwägung gegenüber Funktionalität und Terminplanung. Aber durch frühzeitiges Lösen von Problemen und Verifizieren können Kosten gesenkt werden. Dieses Plakat hilft Ihnen dabei, elektromagnetische Störungen beim Design im Blick zu behalten.

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Optimierung der Störemissionen von Netzteilen

Optimierung von Entstörfiltern für Schaltnetzteile

Wählen Sie ein Verfahren, mit dem durch die Nutzung von zwei Oszilloskopkanälen eine Trennung von Gleichtakt- und Gegentaktrauschen erreicht wird.

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Optimierung von Halbleiterschaltern zur Erzielung von EMI-Konformität

Korrelierte Messungen im Zeit- und Frequenzbereich ermöglichen die Optimierung der Gate-Treiber-Spannung und die Minimierung elektromagnetischer Störaussendungen bereits während der Entwicklung.

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Wie sich Gleichtaktstörungen in elektrischen Antriebssystemen messen und reduzieren lassen

Erfahren Sie mehr über Gleichtaktstörungen und wie Handheld-Oszilloskope in Kombination mit Rogowski-Tastköpfen eine einfache und zuverlässige Möglichkeit zur genauen Bestimmung der erforderlichen Größen und der Wirksamkeit verschiedener Gegenmaßnahmen bieten.

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Detecting infrequent anomalies in the spectrum of mixed signal power designs

In addition to the main function, power electronic circuits very often have to provide other essential functions such as interfacing with submodules to fulfill system design requirements.

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Geleitete Störungen in DC/DC-Wandlern – Simulation versus Messung

Die Simulation kann bei der Entwicklung von EMI-Filtern für DC/DC-Wandler viel Zeit sparen. Die Hersteller von Netzteil-Steuerchips bieten verschiedene Filterdesign-Tools an, die brauchbare Designoptionen für die Filtersimulation liefern, noch bevor ein Hardware-Prototyp verfügbar ist.

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EMI-Fehlersuche mit dem Oszilloskop

Fundamentals of EMI debugging & precompliance

In this webinar our expert will guide you through the fundamentals of EMI debugging & precompliance measurements.

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Effektive EMI-Fehlersuche mit dem Oszilloskop

Ohne eine geeignete Strategie kann die EMI-Fehlersuche samt der Lokalisierung von intermittierenden Fehlern äußerst frustrierend sein. Entdecken Sie in diesem Webinar die Grundlagen von praxisnahem EMI/EMV-Design und der Fehlersuche an elektronischen Schaltungen. Dabei kommen hochmoderne Oszilloskope zum Einsatz, um Ihre Signale sowohl im Zeit- als auch im Frequenzbereich zu analysieren.

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Einfache Fehlersuche bei geleiteten Störungen mit dem Oszilloskop

Elektromagnetische Störungen (EMI) müssen bereits früh in der Designphase berücksichtigt werden. Dies gilt insbesondere im Fall von Leistungselektroniksystemen mit erhöhten Schaltgeschwindigkeiten von Wide-Bandgap-Halbleitern (Halbleiter mit großer Bandlücke). Für die frühzeitige Optimierung im F&E-Labor bietet Rohde & Schwarz ein KOSTENLOSES SOFTWARE-TOOL, um die Fehlersuche bei geleiteten Störaussendungen mithilfe von Oszilloskopen zu erleichtern.

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EMI-Fehlersuche mit Oszilloskopen von Rohde & Schwarz

Diese Application Note erklärt auf einfache Art und Weise, wie sich EMV-Probleme mit den Oszilloskopen von Rohde & Schwarz analysieren lassen.

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Verkürzen Sie Ihre Entwicklungszeiten mit einem Oszilloskop für die EMI-Fehlersuche

Mit leistungsstarken und benutzerfreundlichen FFT-Analysefunktionen für die EMI-Fehlersuche sparen Sie eine Menge Zeit und Geld.

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EMI-Fehlersuche

Dieses Video zeigt, wie man das R&S RTO Oszilloskop zusammen mit einer Nahfeldsonde einsetzt, um Probleme mit elektromagnetischen Störungen während der Entwicklung im Labor schnell und zuverlässig aufzuspüren und zu beheben. Dies minimiert den Aufwand für kostspieliges, erneutes Testen und verkürzt die Produkteinführungszeit. Video, Lösung, Oszilloskop, EMI, RTO EMI-Fehlersuche

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EMI-Fehlersuche mit Spektrumanalysatoren

EMI-Fehlersuche auf Platinenebene

Ein Handheld-Spektrumanalysator in Kombination mit Nahfeldsonden bietet eine kostengünstige Lösung für die schnelle Lokalisierung und Analyse von EMI-Problemen.

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EMI-Fehlersuche an Schaltnetzteilen

Messung gestrahlter und leitungsgebundener Störaussendungen mit einem Spektrumanalysator.

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Choosing a near field probe

A must-read guide on how to choose near field probes! Learn about near field probes, why they are important for EMC compliance and debugging and what to look for when selecting a probe.

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Produkte für die EMI-Fehlersuche

Weitere Informationen und Serviceleistungen

EMV-Systemlösungen

Rohde & Schwarz liefert schlüsselfertige, auf die Bedürfnisse des Kunden zugeschnittene EMV-Testsysteme, die den Anforderungen der aktuellen EMV-Normen in vollem Umfang entsprechen.

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