Testes precisos de pulso duplo com o sistema de pontas de prova isoladas R&S®RT-ZISO
Os testes de pulso duplo (DPT) são fundamentais para avaliar o comportamento de comutação de transistores de efeito de campo metal-óxido-semicondutor (MOSFET), transistores bipolares de porta isolada (IGBT) e dispositivos semicondutores de potência de banda proibida larga (WBG). A taxa de subida («slew rate») dos dispositivos de comutação está aumentando, especialmente nos transistores de potência do lado alto, onde a referência aos nós de comutação cria um ambiente de modo comum de alta velocidade. As pontas de prova diferenciais convencionais de alta tensão enfrentam dificuldades para obter uma boa medição devido ao seu limitado fator de rejeição em modo comum (CMRR) em frequências mais altas.