Effiziente Augendiagrammtests bei DDR3/DDR4-Systemdesigns
Konformitätstests sind unerlässlich, um sicherzustellen, dass die Signale von DRAM-Speicherbausteinen die JEDEC-Spezifikationen in Bezug auf Parameter wie Zeitverhalten, Anstiegsrate und Spannungspegel erfüllen. Bei der Systemverifizierung und bei der Fehlersuche sind Augendiagrammmessungen das wichtigste Werkzeug zur effizienten Analyse der Signalintegrität in digitalen Designs. Die spezifischen Anforderungen von DDR erfordern eine dedizierte Lösung mit einer leistungsfähigen Lese-/Schreibtrennung, um aussagekräftige Augendiagramme auf dem DDR-Datenbus zu erhalten.