Geração de sinais de radar em um ambiente de hardware no circuito (HiL)

Desenvolvimento de sistemas modernos de GE em um processo complexo e caro, que exige testes minuciosos para verificar os requisitos completos durante todas as fases de desenvolvimento. Para manter os custos sob controle, os testes a nível de sistema, no laboratório, são fundamentais e apresentam diversas vantagens: os casos de teste podem ser reproduzidos exatamente sob as mesmas condições, sempre que necessário. Os testes a nível de sistema, no laboratório, normalmente são realizados em um ambiente de hardware no circuito (HiL).

Esta nota de aplicação apresenta alguns insights sobre a geração de sinais de radar para testes de hardware no circuito com o R&S®SMW200A. Ela inclui introdução aos testes de HiL e à operação em tempo real do R&S®SMW200A. Há, inclusive, uma descrição da interface de hardware e software, da sincronização e do formato de PDW e dos mecanismos de tempo. Além disso, ela fornece vários cenários de exemplo e informações detalhadas sobre cálculos intermediários. Esta nota de aplicação também apresenta informações sobre os requisitos do sistema para transmissão avançada de PDW com diversos emissores em múltiplos fluxos paralelos.