Medições em dispositivos com valor de ruído muito alto

Há vários motivos para realizar medições em componentes com valor de ruído muito alto. Por exemplo, em uma ampla gama de aplicações, os dispositivos em teste (DUTs) são caracterizados dentro de uma configuração para testes complexa, que inclui grandes perdas antes ou após o dispositivo em teste com ruído baixo. No caso de altas frequências, a matriz de comutação com cabos e roteamento de sinais complexos pode apresentar uma perda muito grande. Em outros casos, o dispositivo pode estar integrado em uma configuração para testes, à qual o acesso direto é fisicamente impossível, como no caso de uma sondagem em wafer. Usando um instrumento de medição convencional, a medição do valor de ruído de tal dispositivo é bastante instável ou, até mesmo, impossível.