Teste de integridade de sinal

Integridade de sinal: Teste de interface

A integridade de sinal é essencial para o funcionamento correto de todas as interfaces em seu design digital. Ela é altamente influenciada pela implementação de transmissor e receptor em chip, bem como pelo design do canal de transmissão, incluindo traços de PCB, vias, conectores e cabos. Diagramas de olhos permitem uma compreensão imediata para avaliar a qualidade do sinal. Como os problemas de integridade de sinal frequentemente são dependentes de padrões, uma alta velocidade de aquisição é útil para obter muitas aquisições em um tempo razoável e visualizar cenários desfavoráveis no diagrama de olhos. Para a análise mais profunda e depuração, esses testes geralmente são limitados pela medição precisa e decomposição de jitter e ruído, bem como medições TDR/TDT em traços de sinal decisivos. A sondagem é essencial para obter bons resultados de medição e a compensação é utilizada para remover os efeitos do caminho de sinal entre o ponto de prova e o ponto de teste, assim como para ter resultados precisos no nível de medição desejado. Com compensação em tempo real, até mesmo triggering na forma de onda correta é possível.

Com o conhecimento especializado, tanto no domínio de tempo como no domínio de frequência, bem como o trabalho em parceria com os respectivos órgãos de padronização, a Rohde & Schwarz fornece uma ampla gama de soluções em integridade de sinal para testes de interface, no nível do sistema e no nível do chip.

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Cartaz: Testes com diagrama de olhos para integridade de sinal

Obtenha este cartaz com um guia para a realização de testes com diagrama de olhos para integridade de sinal medindo nos transmissores ou medindo nos receptores, bem como para gerar um diagrama de olhos utilizando osciloscópios e analisadores de redes vetoriais.

Use este cartaz como referência em seu laboratório. Registre-se para baixar um PDF ou obter uma versão impressa para seu laboratório.

Teste de conformidade com falha

Teste de conformidade com falha. E agora?

Os testes de conformidade são realizados em interfaces de dados seriais, como USB, HDMI e PCI Express, para garantir a interoperabilidade entre acessórios e dispositivos eletrônicos. Nos casos em que são encontrados problemas de integridade de sinal, o osciloscópio R&S®RTP possibilita a análise de causa fornecendo ferramentas eficazes, como os diagramas de olhos, o jitter, a separação de ruídos e, também, a reflectometria no domínio do tempo.

Webinars sobre teste de interface

Webinar: Advanced eye analysis - get to your results faster

Webinar: Advanced eye analysis - get to your results faster

The advanced eye analysis options in R&S©RTP oscilloscopes use a hardware based CDR, providing an unrivalled number of UI acquisitions per second. Besides the traditional eye analysis on a captured bit sequence, R&S©RTP also offers a tool for long-term eye monitoring.

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Obtenha o seu momento revelador com mais rapidez usando a análise ocular avançada

Webinar: Obtenha o seu momento revelador com mais rapidez usando a análise ocular avançada

A Rohde & Schwarz desenvolveu uma nova maneira de capturar e medir diagramas de olhos no hardware. Fazendo com que a captura, o bloqueio e a exibição de todos os bits necessários para localizar anomalias ou realizar análises estatísticas sejam muito mais rápidos.

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Introdução ao novo

Webinar: Introdução à nova abordagem da Rohde & Schwarz para a decomposição de jitter

A decomposição de jitter é de importância decisiva para a solução de problemas e descoberta da causa do jitter. Neste webinar, apresentaremos a nova abordagem da Rohde & Schwarz para possibilitar isso.

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Webinar "Desmistificando a compensação"

Webinar: Desmistificando a compensação para testar sinais digitais e de RF de alta velocidade

Este webinar aborda o impacto das configurações de medição nos resultados e os métodos ideais necessários ao lidar com medições de sinais digitais e de radiofrequência de alta velocidade.

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5 passos para um diagrama de olhos em tempo real

Webinar: 5 passos para um diagrama de olhos em tempo real - depuração de integridade de sinal

Este webinar é direcionado para engenheiros que trabalham com design e testes de interfaces de alta velocidade. Vamos começar com os métodos e desafios de design típicos para abordar a análise de integridade de sinal.

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Documentos sobre teste de interface

Com aterramento ou sem aterramento – Como conectar a sua sonda

Com a operação de vários modos P/N/DM/CM, o sistema de sondas modulares R&S®RT-ZM fornece alta flexibilidade para medir sinais diferenciais e de terminação única. Apesar do uso de uma conexão de aterramento normalmente ser recomendado, ele pode introduzir loops de aterramento. Com aterramento ou sem aterramento – As principais considerações são abordadas neste documento.

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Análise de integridade de sinal para interfaces de comunicações de dados de alta velocidade

Os osciloscópios R&S®RTP e R&S®RTO2000 fornecem opções para um modelo de sinal baseado em decomposição de ruído e jitter. Essa abordagem também proporciona inerentemente a resposta de passo do sistema. A análise é possível no domínio de tempo e no domínio de frequência, exibindo também a magnitude e a fase da resposta em frequência do sistema sem a necessidade de conexões extra.

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Abordagem baseada em modelo de sinal para reunir decomposição de jitter e ruído

Abordagem baseada em modelo de sinal para reunir decomposição de jitter e ruído

A separação precisa de fontes de jitter e ruído é decisiva para a validação e a depuração de sinais seriais de alta velocidade. Comparado aos métodos tradicionais, a abordagem baseada em modelo de sinal fornece maior precisão da decomposição. Ela também oferece resultados como resposta de aumento e queda para análises futuras.

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Comparação de soluções comerciais para decomposição de ruídos e jitter

Comparação de soluções comerciais para decomposição de ruídos e jitter

O modelo de sinal baseado na decomposição de ruídos e jitter dos osciloscópios R&S®RTP, R&S®RTO6 e R&S®RTO2000 fornece uma precisão sem igual. Este documento explica brevemente os diversos componentes de jitter. Em seguida, ele compara os resultados das diferentes soluções comerciais de decomposição de jitter usando formas de onda com componentes conhecidos de jitter.

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Compensação em tempo real com o R&S®RTP

Compensação em tempo real com o R&S®RTP

A compensação de adaptadores e cabos em uma configuração para testes é essencial para medições válidas em interfaces digitais. O osciloscópio R&S®RTP com opção K122 fornece compensação em tempo real para trigger e medição das características efetivas do sinal em tempo real.

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Otimize medições diferenciais em interfaces de alta velocidade

Otimize medições diferenciais em interfaces de alta velocidade

O sistema de sonda modular R&S®RT-ZM oferece suporte a medições em modo diferencial e modo comum, bem como medições de terminação única. A conexão de aterramento evita flutuações do circuito e garante sinais estáveis e reproduzíveis.

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Melhorando o alinhamento canal a canal

Melhorando o alinhamento canal a canal para aquisição multicanal com precisão de fase coerente

A medição e o alinhamento da inclinação de canal a canal é um pré-requisito importante para realizar medições precisas multicanal. Os osciloscópios R&S®RTO e R&S®RTP fornecem uma fonte opcional de pulsos diferenciais de alta velocidade (R&S®RTO-B7 e R&S®RTP-B7) para facilitar esse alinhamento.

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Depuração rápida com triggers especializados

Depuração rápida com triggers especializados

O sistema de trigger digital nos osciloscópios da Rohde & Schwarz acessa diretamente as amostras adquiridas em tempo real, suportando uma grande seleção de condições de trigger com precisão insuperável.

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Análise de jitter

Análise de jitter com o osciloscópio digital R&S®RTO

Jitter é uma das preocupações principais na análise de integridade de sinal. Com as opções R&S®RTP-K12 e R&S®RTO-K12, os osciloscópios da Rohde & Schwarz medem jitter TIE, jitter de período, jitter ciclo-ciclo, entre outros, e oferecem telas de resultados como espectro, histograma ou rastreamento de jitter.

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Vídeos sobre teste de interface

Advanced Jitter Analysis with R&S Oscilloscopes

Análise de jitter avançada com osciloscópios da Rohde & Schwarz

O R&S®RTx-K133 introduz uma nova decomposição de jitter com base em modelo de sinal. Comparado aos métodos tradicionais, ele fornece maior precisão da decomposição e também oferece resultados valiosos como resposta de aumento e queda para análises futuras.

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

Análise de TDR/TDT com osciloscópios da Rohde & Schwarz

Medição TDR/TDT, análise de impedância e perda em transmissão com o R&S®RTP-K130. A opção inclui um assistente de calibração fácil de usar para mover a interface da medição até a posição desejada.

Realtime deembedding

Compensação em tempo real com o R&S®RTP

Compensação em tempo real de um caminho de sinal com o osciloscópio R&S®RTP com opção K122. Trigger em eventos de sinal detectáveis somente em um sinal compensado.

Industry-leading mask test: quick configuration – reliable results

Teste de máscara líder no setor: configuração rápida – resultados confiáveis

Medições de diagramas de olhos e definição de máscaras de olho com o R&S®RTO. Testes de máscara revelam rapidamente se um determinado sinal está dentro dos limites de tolerância definidos, fornecendo análise de aprovação/reprovação para avaliar o dispositivo em teste.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Análise de jitter com o R&S®RTO

Medição de jitter TIE com o osciloscópio R&S®RTO, com a opção K12. Análise de jitter do TIE de um sinal de clock em visualização de estatísticas, rastreamento, histograma e espectro para detecção de distúrbios no clock.

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Analisadores de espectro e sinal/analisadores de ruído de fase

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