Teste de integridade de sinal

Integridade de sinal: Teste de interconexões e PCB

O design adequado de traços de PCB, vias, conectores e cabos é essencial para assegurar a integridade de sinal no canal de transmissão. O desempenho é tipicamente caracterizado por perda por inserção e perda por retorno, bem como diafonia na extremidade próxima (NEXT) e diafonia na extremidade distante (FEXT). A conversão de modo ajuda a compreender um potencial caminho de acoplamento de EMI ou EMS e, a conversão de modo comum para diferencial, por exemplo, é frequentemente especificada e precisa ser testada. Os parâmetros do domínio de frequência também são transformados em domínio do tempo para visualizar interrupções através da estrutura do sinal, bem como tempos de subida/descida de sinal, distorções em pares e entre os pares. Os diagramas de olhos e testes de máscara de olho frequentemente são realizados com base nos parâmetros S medidos.

Para evitar uma inconveniente calibração TRM/TRL com múltiplos padrões, a compensação é necessária para caracterizar com precisão as lead-ins e lead-outs para o dispositivo em teste (DUT). Com isso, as lead-ins e lead-outs são removidas da medição e podem ser realizadas medições precisas do dispositivo em teste. A lead-in caracterizada também pode ser usada para compensar esse caminho de sinal em uma medição de osciloscópio.

Com o conhecimento especializado, tanto no domínio do tempo como no de frequência, bem como o trabalho em parceria com os respectivos órgãos de padronização, a Rohde & Schwarz fornece uma ampla gama de soluções de integridade de sinal para testar PCBs e interconexões e para caracterizar lead-ins para utilização em osciloscópios para compensar resultados de medição.

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Cartaz: Testes com diagrama de olhos para integridade de sinal

Obtenha este cartaz com um guia para a realização de testes com diagrama de olhos para integridade de sinal medindo nos transmissores ou medindo nos receptores, bem como para gerar um diagrama de olhos utilizando osciloscópios e analisadores de redes vetoriais.

Use este cartaz como referência em seu laboratório. Registre-se para baixar um PDF ou obter uma versão impressa para seu laboratório.

Webinars sobre testes de interconexões e PCB

Webinar: Seleção, caracterização e compensação de pontas de prova diferenciais para medições precisas de estruturas de sinais de placas de circuito impresso (PCBs) de alta velocidade

Webinar: Seleção, caracterização e compensação de pontas de prova diferenciais para medições precisas de estruturas de sinais de placas de circuito impresso (PCBs) de alta velocidade

Este webinar trata dos aspectos fundamentais para realizar medições precisas com pontas de prova diferenciais em estruturas de sinais de placas de circuito impresso (PCBs) de alta velocidade.

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Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

Webinar: Compensação avançada - modelagem precisa de adaptador para medições exatas de analisadores de redes vetoriais (VNA) em dispositivos em teste não coaxiais

Este webinar é destinado aos engenheiros que trabalham com projeto e testes de dispositivos eletrônicos digitais de alta velocidade.

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Análise de integridade de sinal em PCB

Webinar: Análise de integridade de sinal em PCB e interconexões

Esse webinar foi criado por engenheiros que trabalham na integridade de sinal com projetos digitais. Ele concentra o foco nos aspectos da influência de canal por meio de PCB e interconexões, como reflexões, perdas e respostas em frequência nos materiais de PCB, diafonias involuntárias e estruturas ressonantes.

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Documentos sobre teste de interconexões e PCB

Compensação e caracterização de adaptadores de teste

Compensação e caracterização de adaptadores de teste

Para medições de dispositivos sem conectores, adaptadores de teste ou pontas de prova são necessários para realizar a adaptação a partir da interface coaxial do equipamento de teste para o dispositivo em teste. Essas lead-ins e lead-outs devem ser caracterizadas e compensadas dos resultados de medição. Esta nota de aplicação oferece dicas práticas para compensar e caracterizar com precisão estruturas de lead-in e lead-out com analisadores de redes vetoriais da Rohde & Schwarz.

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Testes de perda por inserção em estruturas de sinal de placas de circuito impresso (PCBs) com Delta-L 4.0

A perda por inserção a cada polegada é uma medida essencial para projetos de placas de circuito impresso (PCBs) e de componentes periféricos de interconexão expressa (PCIe). Ela precisa ser medida para a seção de um traço de sinal em uma determinada camada da PCB, removendo os efeitos das vias e pontas de prova da PCB. Delta-L é o melhor método para obter este valor utilizando cupons de teste de diferentes comprimentos. O Delta-L 4.0 é uma ampliação recente para PCIe 5.0 e 6.0 e está integrado ao R&S®ZNx-K231.

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Medições precisas em PCBs digitais de alta velocidade com o R&S®ZNB

Medições precisas em PCBs digitais de alta velocidade com o R&S®ZNB

Com a opção de domínio do tempo avançado R&S®ZNB-K20, o R&S®ZNB fornece testes precisos de diagrama de olhos, tempo de subida, distorção, etc., em estruturas de sinal de alta velocidade digital. Ferramentas adicionais de compensação podem ser instaladas para remover os efeitos de lead-ins e lead-outs.

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A importância de parâmetros S precisos para aplicações de PAM-4

A importância de parâmetros S precisos para aplicações de PAM-4

Medições precisas de parâmetros S são necessárias para caracterizar perdas por inserção, perdas por retorno e diafonias de estruturas de sinais em designs digitais de alta velocidade. A margem operacional de canais (COM) e a perda de retorno efetiva (ERL) são apresentadas para descrever o desempenho do canal em um determinado modelo de transmissor e de receptor.

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Medições de domínio do tempo usando o analisador de redes vetoriais R&S®ZNA

Medições de domínio do tempo usando o analisador de redes vetoriais R&S®ZNA

Introdução às medições TDR/TDT com base em analisadores de redes: resposta de impulsos e de passos, resolução em tempo e distância, tamanho de passo e amplitude inequívoca, sistema de janelas e gating de domínio do tempo

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R&S®ZNB

Verifique a integridade de sinal de alta frequência em placas de circuito impresso

Com as crescentes velocidades de transmissão, as estruturas de sinal de PCB precisam ser projetadas para frequências como 40 GHz ou maiores. A necessidade cada vez maior por inspeções de retorno e os respectivos testes no módulo das estruturas de sinal funcionais requerem soluções de teste completamente automatizadas e rápidas.

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Caracterização rápida de canais digitais de alta velocidade usando um analisador de redes vetoriais de várias portas

Caracterização rápida de canais digitais de alta velocidade usando um analisador de redes vetoriais de várias portas

Os analisadores de redes vetoriais (VNA) são a melhor escolha em instrumentos para caracterizar canais digitais de alta velocidade. Comparados aos VNAs tradicionais de 4 portas, os VNAs multiportas como o R&S®ZNBT fornecem vantagens significativas ao medir IL, RL, NEXT e FEXT em estruturas de sinal com múltiplas vias.

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Vídeos sobre teste de interconexões e PCB

De-embedding and measuring a PCIe5 connector with R&S®VNA
Compensação e medição de um conector PCIe5 com o R&S®VNA

Com referência a configurações e medições com o analisador de redes vetoriais R&S®ZNA, vamos demonstrar o processo de compensação de um conector PCIe5 integrado em um adaptador.

Signal Integrity Measurements

Medições de integridade de sinal

Em combinação com a opção de domínio do tempo avançado R&S®ZNA-K20, o analisador de redes vetoriais R&S®ZNA oferece uma variedade de medições de integridade de sinal como diagrama de olhos, tempo de subida, distorção, etc. Um cabo USB-C é analisado nos domínios de frequência e tempo.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Teste de integridade de sinal em estruturas de sinais diferenciais com o R&S®ZNB

Medição de tempo de subida, impedância, distorção no mesmo par, distorção entre o par, etc., com a opção de domínio do tempo avançado R&S®ZNB-K20.

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

Análise de TDR/TDT com osciloscópios da Rohde & Schwarz

Medição TDR/TDT, análise de impedância e perda em transmissão com o R&S®RTP-K130. A opção inclui um assistente de calibração fácil de usar para mover a interface da medição até a posição desejada.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Análise de diagrama de olhos com R&S®ZNB: Introdução

Medição de diagramas de olhos e teste de máscara de olho, com a opção de domínio do tempo avançado R&S®ZNB-K20. A opção permite a análise de jitter e ruído, bem como a ênfase e a equalização no diagrama de olhos medido.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Análise de diagrama de olhos com o R&S®ZNB: Como configurar as medições

Medição de diagramas de olhos e teste de máscara de olho, com a opção de domínio do tempo avançado R&S®ZNB-K20. A opção permite a análise de jitter e ruído, bem como a ênfase e a equalização no diagrama de olhos medido.

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