Teste de interface digital de alta velocidade

Teste de interface digital de alta velocidade

Soluções de teste e medição para verificação, depuração e testes de conformidade de designs digitais de alta velocidade

As interfaces digitais de alta velocidade estão no núcleo de todos os projetos eletrônicos. O aumento das taxas de dados e a crescente densidade de integração criam novos desafios para os projetos no que diz respeito a IC, placa e sistema. A integridade do sinal é um requisito essencial e também precisa ser garantido na presença de sinais próximos sem fios, de outras interfaces de alta velocidade e de distúrbios nos trilhos de alimentação. Para capturar de forma eficiente nos piores cenários, é necessário ter taxas de aquisição altas e triggering poderoso.

As soluções de teste da Rohde & Schwarz fornecem ferramentas poderosas para verificação e depuração de sistema, bem como testes de conformidade para:

  • Integridade de sinal: teste de interface
  • Integridade de sinal: teste de interconexão e PCB
  • Depuração no que diz respeito a protocolo
  • Teste de integração de potência
Teste de interface digital de alta velocidade, teste DDR

DDR – memória de velocidade de transmissão dupla

  • Soluções de teste para verificação e depuração de design
  • Soluções de teste para testes de conformidade
Teste de interface digital de alta velocidade, teste de USB

USB – barramento serial universal

  • Soluções de teste para verificação e depuração de design
  • Soluções de teste para testes de conformidade
Teste de interface digital de alta velocidade, teste PCIe

PCIe – componente periférico de interconexão expressa

  • Soluções de teste para verificação e depuração de design
  • Soluções de teste para testes de conformidade
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