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Desde el diseño hasta el dispositivo real de RF – vinculación de simulación EDA y test de hardware

Este webinar se dirige a técnicos que diseñan componentes y sistemas de RF con herramientas para la simulación y test de hardware. Presentaremos una nueva solución conjunta desarrollada en colaboración con Cadence. La solución R&S®VSESIM-VSS amplía las capacidades del Cadence® Visual System Simulator™ (VSS), de uso muy extendido en simulaciones de automatización de diseño electrónico (EDA).

La nueva solución simplifica el proceso de desarrollo de componentes y sistemas de RF mediante el uso de señales reales en la simulación del sistema EDA y en los test de hardware. La simulación con señales de banda ancha complejas según las especificaciones técnicas más recientes para 5G NR o Wi-Fi permite obtener resultados más cercanos a la realidad que hasta ahora. Al utilizar los mismos métodos de creación de señales y algoritmos de análisis que para los test de hardware subsiguientes, se consigue una correlación directa desde la fase temprana de diseño hasta la verificación de la implementación.

Para que esto sea posible se han integrado las herramientas de generación y análisis de señales R&S®WinIQSIM2 y R&S®VSE en la herramienta de simulación VSS de Cadence. Una demostración de la solución R&S®VSESIM-VSS, que se estrenará en breve, ilustrará la eficacia y eficiencia con que funciona el nuevo enfoque y qué beneficios puede aportarle a usted.

Dr. Gent Paparisto is a Product Engineering Architect at Cadence Design Systems. He holds a Ph.D. degree in electrical engineering from the University of Southern California (USC), Los Angeles. Dr. Paparisto has extensive experience in systems engineering, covering a broad range of communication technologies as well as signal processing algorithms for wireless and wireline applications. He has led and participated in the design and implementation of several products for cellular and wireless systems. He is also experienced in the RF system design and analysis field, and he has contributed extensively to the development of AWR RF simulation tools. Dr. Paparisto has authored multiple publications in international journals and conferences, served on the technical program committees of various IEEE conferences, contributed to the 3GPP TSC GERAN standardization effort, and is a US patent holder.

Markus Loerner is a marketing expert at Rohde & Schwarz focusing on the RF & microwave component market. He joined Rohde & Schwarz in 2000 and worked as a signal generator product manager in various RF applications from mobile wireless to satellite communications, for both R&D and production use. He holds a degree in electrical engineering from the University Erlangen-Nuremberg, Germany.

Markus Loerner