Rohde & Schwarz, Analytical Group, CUBIT e ALLdata sono lieti di presentare il Workshop

EMC Day: la compatibilità elettromagnetica nei vari aspetti

 

Location: Polo Tecnologico Navacchio via Giuntini 13 – Cascina (PI)
Data: Giovedì 05/05/2022
Ore 09:00

 

La compatibilità elettromagnetica ha assunto negli anni più recenti un ruolo fondamentale nella realizzazione di ambienti “elettromagneticamente complessi”, con l’utilizzo di un numero sempre crescente di dispositivi e componenti elettronici. La verifica della conformità dei dispositivi alle norme EMC/EMI assume quindi un ruolo fondamentale nello sviluppo e nella progettazione di un prodotto, attraverso prove pre-compliance, che riducono i tempi di testing e certificazione da parte di enti terzi ed il time-to-market.

Il livello di incertezza di misura nelle prove EMC, che prevedono l’utilizzo di catene di misura complesse, non è assolutamente trascurabile, ed un costruttore, nel processo di valutazione della conformità, deve accettare necessariamente un livello di rischio prima dell’immissione in commercio. Tema centrale, vista la complessità della materia, è l’ottimizzazione delle risorse attraverso l’automatizzazione dei sistemi di misura, che rende più veloce, più ripetibile e riproducibile una misura, minimizzando l’errore.

 

AGENDA

Ore 09.00 : Accoglienza e Registrazione partecipanti
Ore 09.30 : Benvenuto e introduzione - Luigi Soffientini - Area Manager – ALLdata S.r.l.
Ore 09.40 : Metodi di simulazione per la compatibilità elettromagnetica - Prof. Giuliano Manara – Ordinario di Campi Elettromagnetici, Dipartimento di Ingegneria dell’Informazione, Università di Pisa
Ore 10.00 : Tecniche per l’ottimizzazione dei test di precompliance - Ing. Luigi Lorusso – Channel Sales Engineer, Rohde & Schwarz Italia S.p.A.
Ore 10.20 : La valutazione della conformità nel settore della compatibilità elettromagnetica e il ruolo dell’incertezza di misura - Ing. Silvia Storai – Responsabile BU Elettromeccanico Analytical S.r.l.
Ore 10.40 : Coffee Break
Ore 11.00 : L’integrazione della strumentazione nelle misure EMC per il miglioramento del processo di misura - Ing. Gianluca Lerose – Test Engineer, Cubit Innovation Labs
Ore 11.20 : Q&A session
Ore 11.40 : Visita del laboratorio Analytical
Ore 12.30 : Termine dei lavori

 

Consulta abstracts e bio

 

POSTI LIMITATI : Il workshop è gratuito ma è necessaria la registrazione online. Le iscrizioni verranno chiuse ad esaurimento posti.

GREEN PASS: Faranno fede le normative che saranno in vigore nel giorno dell'evento

 

 

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