近年、ミリ波やサブテラヘルツ波の周波数で動作するアクティブデバイスの使用が大幅に増加しています。そのようなデバイスは、自動車、レーダー、電波天文学、無線リモートセンシング、軍事などのさまざまな産業で幅広く応用されています。

Sパラメータ測定は、このようなデバイスを特性評価するための一般的な方法です。このウェビナーでは、そのような線形周波数変換および非線形周波数変換アプリケーションのために、どのようにVNAを使用してDUTを特性評価するのかを説明します。

デバイスの駆動が非線形領域に入り始めると、完全なデバイス特性評価を行うために標準的なSパラメータでは不十分になり、新しい手法を使用する必要があります。

ユーザー指定のパワーレベルでSパラメータを測定する手法を解説し、正確で再現性のある利得圧縮測定、および非線形デバイスモデルの検証を可能にするための大信号条件でのDUTの非50 Ωアクティブロードプル測定の方法と、DUT性能を最大化するための理想的な整合回路の作成方法を説明します。