Application Notes

LTE-Endgerätetests unter Fading-Bedingungen mit dem R&S®CMW500 und dem R&S®AMU200A

Diese Application Note zeigt, wie LTE-Endgeräte-Blockfehlerraten- (BLER) und Durchsatztests unter Fading-Bedingungen mit dem R&S®CMW500 Protokolltester und dem R&S®AMU200A Fading Simulator durchgeführt werden.

Name
Type
Version
Date
Size
LTE Terminal Tests under Fading Conditions with R&S®CMW500 and R&S®AMU200A | 1MA177

Related solutions

Development of RF & Baseband

Verification & Conformance