624x-Serie für die I-U-Charakterisierung von elektrischen Bauelementen

Source Measure Unit

Schnell, präzise, hochauflösend, sicher

SMUs von ADCMT für die DC-Charakterisierung von elektrischen Bauelementen

Im Vergleich zu Universal-Labornetzgeräten bieten die SMUs von ADCMT zusätzliche Funktionalitäten wie:

  • 4-Quadranten-Netzgerät mit Betrieb als Quelle/Senke
  • Hohe Auflösung, hohe Genauigkeit
  • Schnelles Antwortverhalten in Kombination mit sehr geringem Rauschen
  • Ermöglicht einen extrem sicheren Betrieb von empfindlichen elektrischen Bauelementen
  • Betrieb als Spannungsquelle mit Strombegrenzer oder als echte Stromquelle mit Spannungsbegrenzer
  • Quellen-/Messmodi: DC, Pulsed, Sweep oder Pulsed Sweep
  • Umfangreiche Synchronisationsfähigkeiten mit weiteren Geräten
Voller SMU-Funktionsumfang
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Product Name
Max. Output Voltage
Max. Current Range
Resol. Curr./Volt.
Minimum Pulse Width
Starting at
±15(10) V
±1 (4 gepulst) A
100pA/1µV gem.
50µs
±32 V
±0,5 A
100pA/1µV gem.
50µs
±6 V
±5 A
100pA/1µV meas.
50µs
4 x ±10 V
4 x ±0,5 A
10pA/10µV gem.
50µs
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    Nur geeignet als Quelle/Senke
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    Product Name
    Max. Output Voltage
    Max. Current Range
    Resol. Curr./Volt.
    Minimum Pulse Width
    Starting at
    ±32 V
    ±0,22 A
    100nA/1µV-Quelle
    20 ms
    ±32 V
    ±0,22 A
    10nA/0,1µV-Quelle
    20 ms
    ±1200 V
    ±0,12 A
    1nA/0,01µV-Quelle
    1s
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      Product Name
      Max. Output Voltage
      Max. Current Range
      Resol. Curr./Volt.
      Minimum Pulse Width
      Starting at
      -15 … +250 V
      ±0.32 A
      10pA/10µV
      50µs
      ±110/64/32 V
      ±0.5/1/2 A
      100pA/1µV
      1ms
      ±15(10) V
      ±1(4 pulsed) A
      10nA/10µV
      500µs
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        Typische Applikationen

        Dioden-Leckstrommessung

        SMUs können in den Modi ISVM (Stromquelle-Spannungsmessung) oder VSIM (Spannungsquelle-Strommessung) betrieben werden. Dank der hohen Auflösung und Genauigkeit können auch kleinste Leckströme von elektrischen Bauelementen charakterisiert werden.

        Dioden-Leckstrommessung
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        Dioden-Leckstrommessung

        Niederohmige Messungen an leitenden Kunststoffen

        SMUs von ADCMT eignen sich ideal für niederohmige Messungen, beispielsweise an leitenden Kunststoffen oder metallischen Steckern mit bis zu 10 µV Auflösung. Einige Geräte (6240B) können automatisch die thermische EMK im Kontaktbereich ausgleichen.

        Niederohmige Messungen an leitenden Kunststoffen
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        Niederohmige Messungen an leitenden Kunststoffen

        Evaluierung von Batterien

        Sämtliche SMUs von ADCMT können für Lade-/Entladetests von Batterien verwendet werden. Die maßgebliche Batteriekapazität wird durch die Ausgangscharakteristik dieser 4-Quadranten-Netzgeräte bestimmt. Die Pulsprofile können mit einer minimalen Pulsbreite von 50 µs an der programmierbaren, gepulsten Stromquelle definiert werden, die für diese Art von Tests als Senke fungiert. Eine einfache Hardware-Verbindung ermöglicht eine vollautomatische Verarbeitung. Mit einer programmierbaren Suspend-Spannung und einer wählbaren Ausgangsimpedanz wird die Batterie vor unerwünschten Transientenströmen während des Betriebs geschützt.

        Evaluierung von Batterien
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        Evaluierung von Batterien

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