Mesures sur des appareils avec un facteur de bruit très élevé

Les mesures de composants à facteur de bruit très élevé sont effectuées pour un grand nombre de raisons. Par exemple, dans une large gamme d'applications, des dispositifs sous test (DUT) sont caractérisés au sein d'une configuration de test complexe qui intègre des pertes élevées avant ou après le DUT faible bruit. En cas de hautes fréquences, la matrice de commutation avec un routage de signal et des câbles complexes pourrait avoir des pertes très élevées. Dans d'autres cas, le dispositif pourrait être embarqué dans une configuration de test où un accès direct est physiquement impossible, le sondage sur plaquette est un exemple de cela. En utilisant un équipement de mesure classique, la mesure du facteur de bruit d'un tel dispositif est très instable voir impossible.