Hochmoderne Test- und Charakterisierungsverfahren ermöglichen es Ingenieuren, die Performance, Effizienz und Zuverlässigkeit von SiC- und GaN-basierten Leistungselektronikbauteilen in Anwendungsbereichen wie KI-Rechenzentren, erneuerbare Energien und E-Mobilität zu verbessern. Auf der PCIM Expo 2026 (9. bis 11. Juni, Messezentrum Nürnberg, Halle 7, Stand 100) präsentiert Rohde & Schwarz seine neuesten Messtechniklösungen.
„Leistungselektronik spielt eine zentrale Rolle für die Energie- und Mobilitätswende. Mit unseren neuesten Messtechniklösungen ermöglichen wir es Ingenieuren, die Performance von SiC- und GaN-Bauelementen der nächsten Generation umfassend zu analysieren, zu optimieren und zu validieren, um Designs mit überlegener Effizienz, Zuverlässigkeit und Geschwindigkeit zu entwickeln“, erklärt Philipp Weigell, Vice President Market Segment Industry, Components, Research & Universities bei Rohde & Schwarz.
3-Phasen-Analyse für Leistungssysteme und Antriebe
Rohde & Schwarz hat die neue 3-Phasen-Leistungsanalyse-Option (R&S MXO-K333) für die Oszilloskope der Serien
R&S®MXO 3
, 4, 5/5C eingeführt. Die Option verwandelt das MXO Oszilloskop in ein in dieser Klasse unübertroffenes Wellenform-Analysewerkzeug, das die detaillierte Charakterisierung von 3-Phasen-Wechselstromleistung ermöglicht. Die Lösung vereinfacht die Analyse von Gesamtleistung und Leistungsqualität mehrphasiger Wechselstromsysteme sowie Oberschwingungs-Konformitätstests und Verzerrungsmessungen. Die ursprünglichen transienten Wellenformen bleiben dabei sichtbar und ermöglichen so eine unmittelbare Ursachenanalyse. Auf der PCIM Expo können Besucher erleben, wie ein Setup-Wizard die acht verfügbaren Kanäle des MXO 5 drei Spannungs- und drei Strommessköpfen zuweist, die Verdrahtung validiert (mit Unterstützung für Zwei-, Drei- und Vier-Leiter-Konfigurationen: 2V2A, 3V3A, 3VN3A) und das Gerät automatisch konfiguriert. Nach der Konfiguration ermöglicht die Software zyklusbasierte Leistungsberechnungen sowie die Bestimmung von Effektivwert, Leistungsfaktor, Wirk- und Blindleistung sowie Gesamtleistung. Sie unterstützt außerdem die Visualisierung von Phasor/Vektor sowie Harmonischen- und THD-Analysen. All dies erfolgt in Übereinstimmung mit IEC 61000-3-2. Die Ergebnisse werden in Form von Leistungsmesskurven, Harmonischen-Spektren, FFT-Statistiken und Phasordiagrammen dargestellt. Die 3-Phasen-Leistungsanalyse-Option umfasst Wellenformansichten und Triggerfunktionen für MXO Oszilloskope. Ingenieure erhalten Einblicke jenseits der rein statistischen Daten herkömmlicher Leistungsanalysatoren, um Fehler in Stromverteilungssystemen, Wandlern und industriellen Energieversorgungssystemen effektiv aufzuspüren.
Effizienz elektrischer Antriebsstränge
Am Stand von Rohde & Schwarz demonstriert ein LMG671 Leistungsanalysator, wie sich Wirkungsgrad und Verlustleistung in der Leistungselektronik moderner elektrischer Antriebsstränge zuverlässig messen und quantifizieren lassen. Der Analysator ermöglicht kontinuierliche, hochgenaue Leistungsmessungen mit außergewöhnlichem Dynamikbereich. Er ermittelt den Wirkungsgrad vom Ein- zum Ausgang des getesteten Antriebsstrangs, während gleichzeitig die mechanische Leistung des Motors durch direkte Drehzahl- und Drehmomenterfassung bestimmt wird. Der Wechselrichterausgang wird in drei separaten Bandbreiten – Grundschwingungs-, Oberwellen- und Breitbandleistung – analysiert, um abgeleitete Werte wie Hochfrequenzverluste zu ermitteln. Alle relevanten Messwerte und Diagramme werden in einem dedizierten CUSTOM-Menü dargestellt, das dem Anwender einen vollständigen Überblick über die Systemperformance gibt. Nach der kürzlich erfolgten Übernahme der ZES ZIMMER Electronic Systems GmbH ist der LMG671 nun Teil des Leistungselektronik-Portfolios von Rohde & Schwarz.
Doppelpulstests von SiC-Leistungsmodulen für Automotive-Anwendungen (Hitachi Energy RoadPak)
In einem weiteren Aufbau präsentieren Rohde & Schwarz und PE-Systems gemeinsam einen automatisierten Doppelpulstester, der präzise und wiederholbare Messungen ermöglicht und zugleich die Konsistenz und Effizienz bei der Charakterisierung von Leistungselektronik verbessert. Die Lösung bietet schnelle Einblicke in das dynamische Schaltverhalten von Leistungsmodulen, und die automatisierte Parameterextraktion reduziert menschliche Fehler und beschleunigt die Entwicklung.
Die Demonstration basiert auf dem rackoptimierten MXO58 Oszilloskop der nächsten Generation von Rohde & Schwarz. Die acht Kanäle in Kombination mit dem R&S RT-ZISO isolierten Tastkopfsystem ermöglichen stabile und präzise Doppelpulstests für SiC- und GaN-Bauelemente in einer vollautomatisierten Umgebung.
Rohde & Schwarz präsentiert diese und weitere innovative Testlösungen auf der PCIM Expo 2026 vom 9. bis 11. Juni in Halle 7, Stand 100 des Messezentrums Nürnberg. Weitere Informationen finden Sie unter: https://www.rohde-schwarz.com/cz/about/trade-shows/rohde-schwarz-at-pcim-2026_229402-1619650.html
