RF & microwave components

Mesures différentielles avec des analyseurs de spectre et des sondes

La taille des composants et de l'espace de carte disponible en constante diminution constitue un défi à la mise en place des connexions de test adéquates pour les instruments RF. De récentes améliorations dans la disponibilité et l’utilisation de blocs de construction différentielle de haute performance pour les circuits RF augmentent les problèmes de connexion de l’équipement de test. L'utilisation des sondes d'oscilloscope permet d'effectuer des mesures en se connectant à des lignes de circuits imprimés et à des contacts de puces où seule une superficie minimale est nécessaire pour le contact. Cette note d’application fournit des informations sur la façon d’utiliser les sondes d’oscilloscope dans les mesures RF en utilisant des analyseurs de spectre, et sur la façon d’afficher les résultats des mesures différentielles avec un analyseur de spectre.

Name
Type
Version
Date
Size
Differential measurements with Spectrum Analyzers and Probes | 1EF84
Type
Application Note
Version
1
Date
Jul 02, 2013
Size
838 kB
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