Misure su dispositivi con figura di rumore molto elevata

Le misure di componenti con figura di rumore molto elevata vengono eseguite per una serie di motivi. Ad esempio, in un'ampia gamma di applicazioni, i dispositivi in prova (DUT) sono caratterizzati all'interno di una complessa configurazione di prova che comprende perdite elevate prima o dopo il DUT a basso rumore. In caso di frequenze elevate, la matrice di commutazione con cavi e percorsi di segnale complessi potrebbe avere una perdita molto elevata. In altri casi, il dispositivo potrebbe essere incorporato in una configurazione di test in cui l'accesso diretto è fisicamente impossibile, come ad esempio il sondaggio on-wafer. Con le apparecchiature di misura convenzionali, la misurazione della figura di rumore di un dispositivo di questo tipo è molto instabile, se non addirittura impossibile.