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PCI Express Gen 3 - Test di conformità e debug

PCI Express Gen 3 - compliance and debug testing

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità. In particolare, ci concentreremo sulle interfacce PCIe Gen 3. Dopo una panoramica della tecnologia PCIe, parleremo dei test PCIe per la conformità, il trigger sul protocollo e la decodifica nonché il debug dell'integrità del segnale.

Inizieremo con la verifica dell'interoperabilità del sistema. Verranno forniti dettagli sulla decodifica, sul trigger seriale, sul test con diagramma a occhio, sul de-embedding, sul controllo dell'impedenza e sull'analisi del jitter, tutti elementi che possono aiutare a identificare le cause principali del fallimento dei test di conformità. Esempi e dimostrazioni pratiche mostrano come i test PCIe possono essere resi semplici e affidabili.

Jithu Abraham works for Rohde & Schwarz as a product manager for the UK, Ireland and the Benelux region, specializing in oscilloscopes. He enjoys all aspects of high-speed digital, wireless communication, efficient power conversion and all the challenges they bring. Jithu holds an engineering degree in electronics and communication from the Anna University in India and a master’s degree in RF systems from the University of Southampton. He has been working for Rohde & Schwarz for over 12 years.

Jithu Abraham