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고속 데이터콤 인터페이스를 위한 신호 무결성 분석
고속 데이터콤 인터페이스 분석은 신호 무결성을 보장하는 중요한 측정 작업입니다. 대부분의 데이터콤 인터페이스는 RF에 적절한 테스트 연결을 제공하지 않으므로, 이 분석의 가장 큰 과제는 물리적 인터페이스와 오실로스코프 간 연결입니다. 고속 데이터콤 IF와 오실로스코프의 RF 커넥터를 연결하기 위한 테스트 픽스쳐가 필수적이며, 이러한 테스트 환경은 신호 무결성 측정에 영향을 미칠 수밖에 없습니다. 고급 지터 옵션을 탑재한 R&S®RTP 및 R&S®RTO 오실로스코프는 지터로 인한 영향을 분석 및 분리할 수 있습니다. 또한, 이 옵션은 테스트 픽스쳐와 트레이스로 인한 내재적 영향을 평가할 수 있어 사용자가 해당 테스트 셋업의 영향을 자세히 파악할 수 있습니다.
7월 15, 2024