제품 개발 일정 준수를 가능하게 만드는 설계 단계의 EMI 디버깅
개발 초기 단계에서 전자기 간섭(EMI) 원인을 확인, 분석, 수정하면 성공적인 EMI 적합성 시험 완료가 가능합니다. 따라서, 재설계 및 개발 지연, 프로젝트 지연으로 인한 추가 비용을 피할 수 있습니다. 불요 방사에 대한 EMI 디버깅은 회로가 활성화되는 즉시 시작할 수 있습니다.
기술 선도적인 FFT 기능, 진보된 트리거 기능과 매우 낮은 입력 잡음 특성을 갖춘 오실로스코프, 그리고 높은 감도와 정확도의 EMI 옵션을 제공하는 스펙트럼 분석기 등 로데슈바르즈의 다목적 범용 제품들은 전도 방사(Conducted Emission)와 복사 방사(Radiated emission) 측정을 위한 신뢰할 수 있는 측정 솔루션입니다. 또한, 민감도가 높은 EMC 니어필드 프로브가 입력 소스로서 제품 포트폴리오를 완성합니다.
자세한 사항은 로데슈바르즈 고객센터로 문의하시기 바랍니다.