고속 디지털 인터페이스 테스트, DDR 테스트

DDR – Double Data Rate Memory

효율적인 DDR 설계 검증 및 디버깅

설계 검증 및 디버깅 - 컴플라이언스 테스트

속도 증가, 메모리 크기 확대, 전력 효율성 향상에 필요성은 JEDEC가 정의한 DDR 및 LPDDR 인터페이스 기술 진화를 유도하고 있습니다. 로데슈바르즈는 JEDEC와 긴밀하게 협력하여 DDR 컴플라이언스 테스트를 위한 강력한 솔루션을 제공합니다.

전체 설계 가운데 일부인 DDR 메모리 컨트롤러와 메모리 장치 또한 고속 인터페이스 또는 무선 신호와 원활히 기능해야 합니다. 로데슈바르즈 DDR 테스트 솔루션은 컴플라이언스 테스트와 더불어 보드 및 시스템 수준에서 효율적으로 설계를 검증하고 디버깅할 수 있도록 도와줍니다.

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DDR3 SI 문제를 디버깅할 때 분석 작업을 손쉽게 수행하려면 마스크 테스트, 아이 다이어그램, 읽기/쓰기 분리와 같은 툴이 필요합니다. R&S®RTx-K91 옵션은 DDR3 시스템 검증 및 디버깅부터 컴플라이언스 테스트까지 전체 툴 체인을 제공합니다.

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DDR 메모리 인터페이스의 신호 무결성 분석에는 읽기/쓰기 주기를 안정적으로 구분하는 것이 중요합니다. R&S®RTP Oscilloscope의 디지털 트리거 및 존 트리거는 DDR 메모리 인터페이스에서 실행되는 테스트를 위해 유연한 다목적 트리거링을 제공합니다.

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R&S®RTP를 이용한 실시간 디임베딩

DDR 메모리 장치의 BGA 인터페이스에서 측정 결과를 도출하려면 인터포저 특성을 디임베딩해야 합니다. R&S®RTP에 R&S®RTP-K122 옵션을 장착할 경우 실시간 디임베딩을 통해 디임베디드 신호를 실시간으로 계측하고 트리거링합니다.

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고속 인터페이스에서 디퍼런셜 측정 최적화

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 싱글 엔드뿐 아니라 디퍼런셜 모드와 일반 모드에서 측정을 수행합니다. 접지 연결은 회로 유동을 방지하고, 안정적이며 재현 가능한 신호를 보장합니다.

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시간 및 주파수 도메인에서 지터 측정 비교

시간 및 주파수 도메인에서 지터를 측정할 수 있습니다. 스코프 기반의 TIE 측정으로 모든 지터 유형을 측정할 수 있지만, 위상 노이즈 분석기를 기반으로 한 지터 측정은 클록 신호로 제한되는 한편 뛰어난 지터 감도를 제공합니다.

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R&S®ZNB를 사용하여 고속 디지털 PCB에서 정밀 측정

R&S®ZNB에 확장형 시간 도메인 옵션 R&S®ZNB-K20을 사용할 경우 디지털 고속 신호 구조에서 아이 다이어그램, 상승 시간, 스큐 등의 테스트를 정확하게 수행할 수 있습니다. 디엠베딩 툴을 추가로 설치하면 리드인 및 리드아웃 영향이 제거됩니다.

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R&S®RTO Oscilloscope를 이용한 지터 분석

지터는 신호 무결성 분석에 주요 요인입니다. 로데슈바르즈의 오실로스코프에 R&S®RTP-K12 및 R&S®RTO-K12 옵션을 사용하면 TIE 지터, 주기 지터, cycle-to-cycle 지터 등을 측정할 수 있고, 지터 트랙, 히스토그램 또는 스펙트럼 등의 결과를 조회할 수 있습니다.

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R&S®RTP-K122 옵션을 이용한 신호 경로의 실시간 디임베딩. R&S®RTP는 디임베딩 처리된 파형을 획득하고 디임베디드 신호를 트리거링합니다.

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R&S®RTO-K12 옵션을 이용한 TIE 지터 측정. 클록 장애를 감지하기 위해 통계, 트랙, 히스토그램, 스펙트럼뷰에서 클록 신호의 TIE 지터 분석.

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