Signalintegritätstest

Signalintegrität: Leiterplatten- und Verbindungstests

Das richtige Design von Leiterbahnen, Durchkontaktierungen, Steckverbindern und Kabeln ist wichtig, um die Signalintegrität auf dem Übertragungskanal zu gewährleisten. Die Performance wird typischerweise durch die Einfüge- und Rückflussdämpfung sowie das Nahnebensprechen (NEXT) und Fernnebensprechen (FEXT) charakterisiert. Um Einblicke in einen potentiellen EMI- oder EMS-Koppelpfad zu erhalten, wird oft eine Modusumwandlung wie z. B. eine Gegentakt- zu Gleichtaktumwandlung spezifiziert, die getestet werden muss. Die Frequenzbereichsparameter werden auch in den Zeitbereich transformiert, um die Diskontinuitäten und die Impedanz über der Signalstruktur sowie die Signalanstiegs-/abfallzeit, den Laufzeitunterschied innerhalb eines Leitungspaars und den Laufzeitunterschied zwischen Leitungspaaren anzuzeigen. Außerdem werden auf Basis der gemessenen S-Parameter oft Augendiagramme erzeugt und Augenmaskentests durchgeführt.

Um eine umständliche TRM/TRL-Kalibrierung mit mehreren Standards zu vermeiden, ist Deembedding erforderlich, damit die Lead-ins und Lead-outs zum DUT (Prüfling) genau charakterisiert werden können. So werden die Lead-ins und Lead-outs bei der Messung kompensiert, und es werden genaue Messergebnisse für den Prüfling erzielt. Charakterisierte Lead-ins können auch zum Deembedding des entsprechenden Signalpfads bei einer Oszilloskopmessung verwendet werden.

Mit Know-how sowohl im Zeit- als auch im Frequenzbereich und dank der engen Zusammenarbeit mit entsprechenden Standardisierungsgremien bietet Rohde & Schwarz eine breite Palette an Signalintegritätslösungen zum Testen von Leiterplatten und deren Verbindungen sowie zur Charakterisierung von Lead-ins für deren Kompensierung (Deembedding) bei der Messung mit Oszilloskopen.

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Poster: Signal integrity eye test

Get with this poster a guidance for Signal Integrity Eye Tests measuring at the transmitters or measuring at the receivers and how to generate an Eye Diagram using oscilloscopes and Vector Network Analyzers.

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Webinare zu Leiterplatten- und Verbindungstests

Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

This webinar is intended for engineers working on the design and testing of high-speed digital electronics.

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Webinar: Analyse der Signalintegrität auf LPs und Verbindungen

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die sich mit dem Thema Signalintegrität an digitalen Designs beschäftigen. Der Fokus liegt auf Aspekten der Kanalbeeinflussung durch LPs und Verbindungen wie Fehlanpassung, Verluste und Frequenzgang auf LP-Materialien, unerwünschtes Übersprechen und resonante Strukturen.

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Dokumente zu Leiterplatten- und Verbindungstests

Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-LPs mit dem R&S®ZNB

Mit der erweiterten Zeitbereichsoption R&S®ZNB-K20 ermöglicht der R&S®ZNB genaue Messungen von u.a. Augendiagramm, Anstiegszeit und Laufzeitdifferenz an digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalstrukturen. Zusätzliche Deembedding-Werkzeuge können installiert werden, um die Auswirkungen von Lead-ins und Lead-outs zu beseitigen.

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Die Bedeutung exakter S-Parameter für PAM-4-Applikationen

Genaue S-Parameter-Messungen sind erforderlich, um Einfügedämpfung, Rückflussdämpfung und Nebensprechen von Signalstrukturen in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs zu charakterisieren. Die Begriffe Kanalbetriebsgrenze (Channel Operating Margin, COM) und Betriebsrückflussdämpfung (Effective Return Loss, ERL) werden eingeführt, um das Kanalverhalten für ein definiertes Sender- und Empfängermodell zu beschreiben.

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Zeitbereichsmessungen mit dem Vektornetzwerkanalysator ZNA

Einführung in Netzwerkanalysator-basierte TDR/TDT-Messungen: Impuls- und Sprungantwort, Auflösung in Zeit und Weg, Schrittweite und Eindeutigkeitsbereich, Fensterung und Zeitbereichsfilterung

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Verifizieren der Hochfrequenz-Signalintegrität von Leiterplatten

Für hohe Datenraten müssen LP-Signalstrukturen auf Frequenzen wie 40 GHz und höher ausgelegt werden. Der wachsende Bedarf an Backdrill-Inspektionen und entsprechenden Inboard-Tests der funktionalen Signalstrukturen erfordern schnelle und vollautomatische Testlösungen.

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Schnelle Charakterisierung von Hochgeschwindigkeits-Digitalkanälen mit Mehrtor-VNA

Der Vektornetzwerkanalysator (VNA) ist das Gerät der Wahl für die Charakterisierung von digitalen Hochgeschwindigkeitskanälen. Im Vergleich zu herkömmlichen 4-Tor-VNAs bieten Multiport-VNAs wie der R&S®ZNBT deutliche Vorteile bei der Messung von Einfügedämpfung (IL), Rückflussdämpfung (RL), Nahnebensprechen (NEXT) und Fernnebensprechen (FEXT) in mehrspurigen Signalstrukturen.

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Videos zu Leiterplatten- und Verbindungstests

Signal Integrity Measurements

Signalintegritätsmessungen

In Kombination mit der erweiterten Zeitbereichsoption R&S®ZNA-K20 bietet der R&S®ZNA Vektornetzwerkanalysator eine Vielzahl von Signalintegritätsmessungen wie Augendiagramm, Anstiegszeit, Laufzeitdifferenz, etc. Ein USB-C-Kabel wird im Frequenz- und Zeitbereich analysiert.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Signalintegritätstests an differenziellen Signalstrukturen mit dem R&S®ZNB

Messung von Anstiegszeit, Impedanz, Laufzeitunterschied innerhalb eines Leitungspaars/Laufzeitunterschied zwischen Leitungspaaren usw. mit der erweiterten Zeitbereichsoption R&S®ZNB-K20.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Augendiagrammanalyse mit dem R&S®ZNB: Einführung

Messung von Augendiagrammen und Augenmaskentests mit der erweiterten Zeitbereichsoption R&S®ZNB-K20. Diese Option ermöglicht die Analyse von Jitter und Rauschen sowie die Verstärkung und Entzerrung auf dem gemessenen Augendiagramm.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Augendiagramm-Analyse mit dem R&S®ZNB: Konfiguration der Messungen

Messung von Augendiagrammen und Augenmaskentests mit der erweiterten Zeitbereichsoption R&S®ZNB-K20. Diese Option ermöglicht die Analyse von Jitter und Rauschen sowie die Verstärkung und Entzerrung auf dem gemessenen Augendiagramm.

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