Tests von schnellen digitalen Schnittstellen, USB-Tests

USB – Universal Serial Bus

Systemverifizierung und Fehlersuche an USB-Designs

Die USB-Schnittstelle dient der Verbindung eines Computers mit seinen Peripheriegeräten. Die Standardisierungsbemühungen im USB Implementers Forum (USB-IF) sind durch die Nachfrage nach höheren Datenraten und Ladegeschwindigkeiten sowie die Integration der Thunderbolt- und DisplayPort-Technologie motiviert.

In enger Zusammenarbeit mit dem USB-IF entwickelt Rohde & Schwarz leistungsfähige Testlösungen für Tests von Schnittstellen, Leiterplatten, Kabeln und Steckverbindern sowie für Power-Delivery-Tests. Unsere Testlösungen ermöglichen Ihnen eine effiziente Verifizierung und Fehlersuche an System-Level-Designs sowie die schnelle Markteinführung Ihrer Produkte.

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Webinare

Webinar: USB 3.2 electrical compliance testing

USB 3.2 electrical compliance testing

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die Hochgeschwindigkeits-Digitaltechnik entwickeln und testen.

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Webinar: USB 3.2 compliance testing

Webinar: USB 3.2 compliance testing

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die Hochgeschwindigkeits-Digitaltechnik entwickeln und testen. Schwerpunktmäßig behandelt werden USB-Schnittstellen. Nach einer kurzen Einführung in die USB-Technologie werden wir die Details der Konformitätsprüfung von USB 2.0 und 3.2 besprechen. In diesem Webinar machen wir Sie mit wichtigen Themen der Signalintegrität vertraut und besprechen die damit verbundenen Herausforderungen.

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Webinar: Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

Webinar: Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die Hochgeschwindigkeits-Digitaltechnik entwickeln und testen. Schwerpunktmäßig behandelt werden USB-Schnittstellen. Wir beginnen mit einer Einführung über den Zweck, die Technologie und die verschiedenen Normen und Anwendungen dieser digitalen Schnittstelle. Herausforderungen, Spezifikationen und Testverfahren eröffnen den Hauptteil des Webinars, nämlich die Tests und Messungen.

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Konformitätstest gescheitert
Konformitätstest gescheitert
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Konformitätstest gescheitert. Was nun?

Konformitätstests für serielle Datenschnittstellen wie USB, HDMI oder PCI Express sichern die Interoperabilität zwischen elektronischen Geräten und Zubehör. Werden Probleme mit der Signalintegrität festgestellt, unterstützt das Oszilloskop R&S®RTP die Ursachenforschung mit leistungsstarken Analysewerkzeugen wie Augendiagramm, Jitter- und Rauschseparierung sowie Zeitbereichsreflektometrie.

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R&S®RTP164 High-Performance-Oszilloskop
R&S®RTP164 High-Performance-Oszilloskop
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Rohde & Schwarz und Eurofins Digital Testing bringen ein hochmodernes Testkit für Konformitätstestprogramme an Hochgeschwindigkeitsschnittstellen heraus

Der Zuwachs bei Hochgeschwindigkeits-Kommunikationstechniken hat zu einem gestiegenen Bedarf an Konformitäts- und Kompatibilitätstests geführt, die eine stetig wachsende Anzahl an Industriestandards erfüllen müssen. Rohde & Schwarz geht eine Partnerschaft mit Eurofins Digital Testing ein, um mit dem R&S®RTP164 High-Performance-Oszilloskop Zugang zu den neuesten Werkzeugen für die Analyse und Konformitätstests von Hochgeschwindigkeitssignalen zu gewähren. Eurofins Digital Testing plant zudem, Zertifizierungsdienste für Hochgeschwindigkeits-Kommunikationstechniken wie USB anzubieten. Erfahren Sie mehr in unserem Flyer.

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MOI-Dokumente
Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Adapter Assembly Compliances Tests

Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Adapter Assembly Compliances Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to legacy adapter assemblies supporting USB3.1 Gen1, and USB2.0. Based on 5 Gbps signaling per lane with vector network analyzers from Rohde & Schwarz.

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Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Cable Assembly Compliance Tests

Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Cable Assembly Compliance Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to legacy cable assemblies supporting USB3.1 Gen2, USB3.1 Gen1, and USB2.0. Based on 5 Gbps signaling per lane with vector network analyzers from Rohde & Schwarz..

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Implementierungsmethode (MOI) für USB3.2-Legacy-Kabeltests

Implementierungsmethode (MOI) für USB3.2-Legacy-Kabeltests

In dieser Application Note werden Implementierungsmethoden (MOI) für präzise, schnelle und fehlerfreie Konformitätstests von USB-3.2-Legacy-Kabeln für die USB-Steckertypen A, B und Micro-Familie beschrieben. Die Tests werden mit Signalisierungsgeschwindigkeiten von 5 Gbps und 10 Gbps pro Lane durchgeführt und nutzen Vektornetzwerkanalysatoren von Rohde & Schwarz.

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Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to Type-C cable assemblies supporting USB4 Gen3, USB4 Gen2, USB 3.2 Gen2, USB3.2 Gen1, and USB2.0.

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Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Das Deembedding der Messaufnahmen und Kabel spielt für aussagekräftige USB-Messungen eine wichtige Rolle. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

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Optimierung von differenziellen Messungen an Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen

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Der modulare Tastkopf R&S®RT-ZM bietet Spezialfunktionen, um Gegentakt- und Gleichtaktmessungen sowie massebezogene Messungen durchzuführen. Die Masseverbindung verhindert ein „Floaten“ der Schaltung und sorgt für stabile und reproduzierbare Signale.

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Vergleich von Jitter-Messungen im Zeit- und Frequenzbereich

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Der Jitter kann im Zeit- und Frequenzbereich gemessen werden. Oszilloskop-basierte Zeitintervallfehler-Messungen eignen sich für alle Arten von Jitter. Demgegenüber sind Jitter-Messungen mit einem Phasenrauschanalysator auf Taktsignale beschränkt – bieten dafür aber eine unübertroffene Jitter-Empfindlichkeit.

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Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-LPs mit dem R&S®ZNB

Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-LPs mit dem R&S®ZNB

Mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der R&S®ZNB genaue Messungen von u.a. Augendiagramm, Anstiegszeit und Laufzeitdifferenz an digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalstrukturen. Zusätzliche Deembedding-Werkzeuge können installiert werden, um die Auswirkungen von Lead-ins und Lead-outs zu kompensieren.

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Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter ist ein wesentlicher Aspekt der Signalintegritätsanalyse. Mit den Optionen R&S®RTP-K12 und R&S®RTO-K12 können Rohde & Schwarz-Oszilloskope Zeitintervallfehler-Jitter, periodischen Jitter, Zyklus-zu-Zyklus-Jitter usw. messen und die Ergebnisse als Jitter-Track, Histogramm oder Spektrum anzeigen.

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Signalintegritäts-Debugging an einem USB 3.1-Gerät mit dem R&S®RTP

Augendiagramm-Messungen an einem USB 3.1 Gen1-Gerät mit dem R&S®RTP einschließlich Maskentests und Augenmessungen wie vertikale/horizontale Augenöffnung und Jitter-Histogramm.

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Fehlersuche an USB 3.1 Gen1-Schnittstellen mit Echtzeit-Deembedding

Signalintegritätsmessungen an einem USB 3.1 Gen1-Gerät. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

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Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Echtzeit-Deembedding eines Signalwegs mit der Option R&S®RTP-K122. Das R&S®RTP erfasst nicht nur bereinigte (Deembedded-)Messkurven, sondern ermöglicht auch das Triggern auf dieses Deembedded-Signal.

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Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO

Messung des Zeitintervallfehler-Jitters mit der Option R&S®RTO-K12. Analyse des Zeitintervallfehler-Jitters eines Taktsignals in der Statistik-, Track-, Histogramm- und Spektrumansicht zur Erkennung von Störungen des Taktgebers.

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Signalintegritätsanalyse an einem USB-C-Kabel mit dem R&S®ZNA

Mit den Optionen R&S®ZNA-K2 Zeitbereichsanalyse und R&S®ZNA-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der Vektornetzwerkanalysator R&S®ZNA verschiedenste Signalintegritätsmessungen. Das Messobjekt – ein USB-C-Kabel – wird im Frequenz- und Zeitbereich sowie außerdem in der Augendiagrammdarstellung analysiert.

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Augendiagramm-Messungen und Augen-/Maskentests mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse. Diese Option kann zur Analyse von Jitter und Rauschen sowie zur Anwendung von Verstärkung und Entzerrung auf das gemessene Augendiagramm eingesetzt werden.

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Messung von Anstiegszeit, Impedanz, Laufzeitunterschied innerhalb eines Leitungspaars/Laufzeitunterschied zwischen Leitungspaaren usw. mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse.

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Konformitätsprüfung eines USB 2.0-Geräts mit dem R&S®RTO. Testautomatisierung mit der Option R&S®RTO-K21 (R&S®ScopeSuite)

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