Выявление и устранение ЭМП в импульсном источнике питания с помощью R&S®FPC1000/ R&S®FPC1500

печатная плата, фильтрация, помехи по земле, программное обеспечение и т. д.
печатная плата, фильтрация, помехи по земле, программное обеспечение и т. д.

Измерительная задача

Инженеры-разработчики сталкиваются со множеством сложных проблем, стремясь соблюсти график выхода на рынок. Потерянные возможности и упущенная доля на рынке из-за задержки графика разработки и выпуска продукта могут обойтись очень дорого. Множество продуктов не проходят проверку на соответствие требованиям ЭМС с первого раза. Каждый день, потраченный на выявление, изоляцию и устранение проблемы с ЭМП, отодвигает дату выхода на рынок.

Силовые линии магнитных и электрических полей в типичной микрополосковой линии
Силовые линии магнитных и электрических полей в типичной микрополосковой линии

Решение компании Rohde & Schwarz

Это решение дает возможность справиться с указанными выше сложными задачами за счет проведения испытаний на ЭМП в рамках цикла разработки продукта. Это повышает вероятность успеха при прохождении испытаний на соответствие по ЭМП в конце цикла разработки продукта. Чем позже в цикле разработки приходится устранять проблемы с ЭМП, тем дороже обходится этот процесс. Превентивные меры, принимаемые в контрольных точках цикла разработки, предотвращают дорогостоящие проектные задержки. Хороший пример — импульсные источники питания. Для устройств с такими источниками питания требуется проведение детальных испытаний. Сочетание высокого уровня мощности и тока при включении и выключении очень полезно для анализа ЭМП.

Схема измерения эмиссионных излучений
Схема измерения эмиссионных излучений: в процессе проверки эмиссионных излучений используются пробники ближнего поля для обнаружения. В этой схеме применяются пробники магнитного поля для измерения излучаемых ЭМП от ИУ.

Эмиссионные излучения

Эмиссионные излучения свойственны любой электрической цепи. В процессе проверки эмиссионных излучений измеряется напряженность электромагнитного поля непреднамеренных излучений, генерируемых продуктом.

Простая настройка
Процедура выявления и устранения ЭМП состоит всего из нескольких действий:

  • Подключите подходящий пробник ближнего поля R&S®HZ-17 к ВЧ-входу анализатора R&S®FPC1000 или R&S®FPC1500
  • Перемещайте пробник над испытуемой платой или модулем
  • С помощью ПО для анализа ЭМП R&S®ELEKTRA (R&S®ELEMI-E) можно быстро задокументировать результаты поиска

R&S®HZ-17 содержит два пробника. Большой пробник кольцевого типа отличается превосходным коэффициентом усиления и хорошо подходит для обзорных измерений. Малый пробник имеет штыревой наконечник. Он обладает хорошим коэффициентом усиления и великолепно подходит для высокого пространственного разрешения вплоть до уровня трассировки платы. При использовании любого пробника учитывайте поляризацию, как показано на рисунке ниже. Силовые линии должны быть вертикальны относительно области приема в пробниках.

Соответствующие частоты эмиссионных излучений находятся в диапазоне от 30 МГц до 1000 МГц и используются для измерения высокочастотных помех, возникающих в переходных процессах при коммутации длительностью < 1 мкс.

Зная набор компонентов или проведя предварительные измерения, разработчик уже представляет себе критические частоты испытуемой платы или модуля. Частота и полоса обзора должны быть настроены в R&S®FPC соответствующим образом. Предельные линии можно использовать для индикации «норма/нарушение» на дисплее и для удобства контроля улучшений после оптимизации конструкции с точки зрения ЭМП.

Использование результатов промежуточных измерения на лабораторном стенде с открытыми печатными платами может привести к проблемам с привязкой при высоких частотах, которые снижаются после размещения плат в металлических корпусах и соответствующего заземления.

Смягчающие меры для импульсных источников питания

Если для ИУ превышены предельные значения для излучений, может понадобится оптимизация компоновки печатных плат (то есть сокращение трасс и предотвращение привязки) или потребуются активные испытания (то есть выбор компонентов на базе измерения излучений).

Схема измерения кондуктивных излучений
Схема измерения кондуктивных излучений

Кондуктивные излучения

Измерения ЭМП включают в себя измерение не только эмиссионных, но также и кондуктивных излучений в направлении к сетевому источнику электропитания. Для этого требуется отделение ВЧ-сигналов от сетевого источника электропитания и стабилизация до 50 Ом. Это обеспечивается с помощью схемы стабилизации полного сопротивления линии.

Лаборатория ˜— это зашумленная и постоянно изменяющаяся электрическая среда. Для воспроизводимости измерений необходима плоскость базового заземления. Использование экранированной камеры помогает отсечь сигналы окружающей среды.

Простая настройка
Компания Rohde & Schwarz предоставляет простое решение для измерения кондуктивных ЭМП.
Подключите R&S®HM6050-2 LISN к

  • сетевому источнику питания через разделительный трансформатор
  • ИУ
  • анализатору спектра R&S®FPC с помощью кабеля BNC
  • ПК с программным обеспечением для анализа ЭМП R&S®ELEKTRA (R&S®ELEMI-E), используя последовательный кабель или кабель USB-адаптера для коммутации линий и подключение по локальной сети к R&S®FPC для дистанционного управления

Если приборы настроены в программном обеспечении для анализа ЭМП R&S®ELEKTRA, они управляются программно с предварительно настроенными схемами измерения с помощью кнопок.

Обзорные измерения, выполняемые с помощью пикового детектора и параллельного среднеквадратичного детектора в диапазоне частот от 150 кГц до 30 МГц, позволяют собирать базовую информацию и данные по гармоникам частоты переключения.

Так как измерение изначально выполняется только с настройкой на фазу L1 или фазу N LISN, необходимо определить, амплитуды какой фазы выше. В некоторых случаях испытательные последовательности необходимо повторять несколько раз.

Смягчающие меры для импульсных источников питания
Если для ИУ превышены предельные значения для излучений, может возникнуть потребность в оптимизации компоновки импульсного блока питания (сокращение трасс, предотвращение привязки, оптимизация заземления). Также могут быть полезны ферритовые элементы, но в этом случае для начала необходима подходящая конструкция печатной платы. Еще одной (обычно дорогостоящей) опцией является дополнительное экранирование.

Запросить информацию

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.
For service/support requests, please go here to log in or register.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.